核磁共振扩散张量成像技术在一氧化碳中毒迟发型脑病中临床研究.docVIP

核磁共振扩散张量成像技术在一氧化碳中毒迟发型脑病中临床研究 　　[摘要] 目的 研究急性一氧化碳中毒在不同脑白质区和不同灰质区核磁共振扩散张量成像技术（diffusion tenson imaging，DTI）平均扩散系数（average diffusion coefficent，ADC）值与各向异性分数（fractional anisotropy，FA）值，与急性一氧化碳迟发性脑病（delayed encephalopathy after acute carbon monoxide poisoning，DEACMP）相关性。 方法 对一氧化碳中毒后30例并发DEACMP和35例未发生DEACMP患者行核磁共振DTI扩散特征参数ADC值与FA值，进行总结分析。 结果 根据DTI的扩散特征参数，能够监测一氧化碳中毒后迟发性脑病患者的脑白质和灰质区的微观结构病理损害程度，DEACMP患者脑白质所测平均ADC值与FA值均低于对照组（P 0.05），灰质核团ADC值有所增高，特别是苍白球明显增高，FA明显降低（P 0.01）。 结论 一氧化碳中毒在不同脑白质区和不同灰质区核磁共振DTI扩散特征参数ADC值与FA值，对评价病情及预测DEACMP的发生具有临床价值。 　　[关键词] 核磁共振扩散张量成像技术；平均扩散系数值；各向异性分数值；迟发性脑病 　　[中图分类号] R445.2 [文献标识码] A [文章编号] 1673-7210（2013）07（c）-0080-03 　　各种原因引起的急性一氧化碳（CO）中毒患者在经抢救后中毒症状会有所缓解或消失，在两天至六十天后，有可能再度出现的相关的神经精神症状，称之为迟发性脑病（delayed encephalopathy after acute carbon monoxide poisoning，DEACMP），是CO中毒最严重的并发症。不同程度影响人民的劳动能力和生活质量，目前DEACMP的发病机制不明，还没有根本的预防方法和治疗手段。磁共振扩散张量成像技术（diffusion tenson imaging，DTI）平均扩散系数（average diffusion coefficent，ADC）与各向异性分数（fractional anisotropy，FA）能进行水分子扩散测量和成像，以更加微观的水平来反映细胞组织的几何结构变化情况，来判断中毒的程度和预测中毒迟发型脑病的发生，以便指导临床治疗。结果报道如下： 　　1 对象与方法 　　1.1 研究对象 　　收集2010年10月～2012年3月CO中毒后30例并发DEACMP和35例未发生DEACMP患者作为研究对象。所有DEACMP患者均有明确CO接触史。在CO中毒初始有昏迷史，症状恢复经过1～40 d的假愈期后突然或渐进性出现神经及精神症状。DEACMP的诊断均符合《内科学》第7版诊断标准[1]。未发生DEACMP组男患者19例，女患者16例，年龄区间为35～79岁，其中60岁的患者21例，≤60岁的患者14例。发生DEACMP组男16例，女14例，年龄37～80岁，平均65.2岁，其中60岁的患者22例，≤60岁的患者8例。患者的昏迷时间为6～55 h，平均19.6 h，患者假愈期2～40 d，患者均在不同阶段行MRI检查。临床治疗中所有患者入院后均给与高压氧、脱水降低颅内压、抗氧化自由基，催醒药物、营养脑细胞、改善脑部血液循环等综合治疗，两组患者在性别、年龄、中毒程度、昏迷时间等方面经统计学处理差异无统计学意义（P 0.05），具有可比性。 　　1.2 仪器设备及成像参数 　　所有患者均采用德国西门子MAGNETOM Verio 3.0T超导型磁共振机设备进行进行MRI扫描检查，定位线与前联合—后联合线（AC-PC）平行。 　　1.2.1 MRI扫描参数 横轴位T2WI（FRFSE）：TR=6000 ms，TE=95 ms；横轴位TIWI（T1 FLAIR）：TR=2000 ms，TE=9 ms；横轴位FLAIR（T2 FLAIR）：TR=8500 ms，TE=94 ms；矢状位T2WI（FRFSE）：TR=6000 ms，TE=95 ms。 　　1.2.2 DTI参数 扫描参数为TR=5900 ms，TE为95 ms，矩阵180 × 192，FOV 216 × 230 mm，NE2，b=0，1000 s/mm2，扩散敏感梯度方向数95个，层厚/层间距为5/0 mm，DTI数据采集时间为66 s。 　　1.3 图像后处理及测量方法 　　对于DTI扫描成像资料传输至MMWP工作站并通过软件Neuro进行EPI图像的变形校正和阈值设定，重建生成ADC图和FA图。通过观察和比较CO中毒后迟发性脑病患者脑