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载波聚合下行吞吐率测试设计与实现 　　摘要：本文围绕解决测试终端载波聚合下行吞吐率问题，提出了两种使用终端测试仪测试下行载波聚合吞吐率的方案，分别为LTE终端测试仪级联的测试方案和LTE-A终端测试仪测试方案；通过分析每个方案的特点，确定了采用基于多核DSP实现的TD-LTE-A终端测试仪测试下行载波聚合吞吐率的方案，并详细说明了上述方案的具体设计内容，描述了TD-LTE-A系统MAC层在该测试方案中生成下行数据的方法和调度方式。最后，通过测试仪表与终端联调证明了该测试方案的有效性和可行性。 　　关键词：通信与信息系统；载波聚合；吞吐率测试 　　中图分类号：TN929.5；TP368.1 文献标识码：A DOI： 10.3969/j.issn.1003-6970.2015.10.019 　　引言 　　近几年来，LTE-Advanced已经成为通信业界最为主要的话题，鉴于国内外众多学者对LTE系统进行的广泛研究和LTE终端测试仪的实现，LTE-Advanced终端测试仪的研发和实现亟需跟进。LTE-Advanced测试仪表和测试系统位于产业链的上游，LTE-Advanced终端测试仪表被用在LTE-Advanced终端的研发、生产、入网认证、维修等多个环节，测试仪表的成熟度和高效性对LTE-Advanced产业链的发展和产品研发起着重要的推动作用。 　　国外众多的测试测