高大应物SPM使用申请表2012051国立高雄大学应用物理学系.DOCVIP

高雄大學 應用物理學系 奈米磁性材料實驗室 原子力顯微鏡使用申請表v.2012.5.14 申 請 單 位 計畫主持人/指導教授 申 請 人 行動電話 e-mail 預期使用時段：　　年　　月　　日　　　時～　　時 使用方式：□申請人自行操作 　　　　□委託操作 操作模式： □Contact Mode □Lateral Force Microscopy □Force-Distance Spectroscopy □Force Modulation Microscopy □Noncontact Mode □Phase Detection □Magnetic Force Microscopy □Electric Force Microscopy □Dynamic-Contact Electric Force Microscopy □Scanning Kelvin Probe microscopy □Piezoresponse Force Microscopy □Voltage Lithography □Force Lithography □Nanoindentation □其他特殊操作模式或需求： 使用探針：(以下所列為本實驗室現有探針型式NSC11A/B, ppp-RT-NCHR, ppp-FMR, ppp-LFMR, NSC18/Co-Cr, ppp-MFMR, Microlever 06B/Co, NSC18/Ti-Pt,NSC35/Ti-Pt, Microlever 06A/B/C/D/E/F) 樣品名稱 數量(個/片) 樣品名稱 數量(個/片) 樣品名稱 數量(個/片) 量測特殊需求註記 申請人簽名： 日期：　　年　　月　　日 計畫主持人/指導教授簽名： 以下實驗完成後填寫 特殊狀況註記 實驗完成日期：　年　月　日 操作人員簽名：　　　　　　　　儀器負責人簽名： 填寫完畢後，請交予本實驗室(理學院518-1實驗室)人員或儀器負責人余進忠老師(理學院512辦公室) 註：本使用申請表每次實驗皆須填寫。 國立高雄大學應用物理學系 奈米磁性材料實驗室 原子力顯微鏡（Park Systems XE-100）使用辦法v.2012.5.14 為有效提升本儀器之效率及維護儀器之運作安全，特訂定本使用申請辦法供非本實驗室人員使用。 本儀器主要為從事研究相關工作，凡高雄大學及校外教師及學生皆可申請使用本儀器進行研究工作。 本儀器原則上每星期可申請使用16小時(共約二個工作日)，若操作時間擁擠由儀器負責人視狀況開放假日時段使用。 欲申請利用本儀器進行研究者，需於一週前先以書面提出申請(每週以一次為限，特殊情況經儀器負責人核可後除外)，於填妥使用申請書後由其計劃主持人/指導教授簽名同意，經儀器負責人核准後始能使用，申請人依照排定時間進行實驗。 如需在夜間或假日時段使用時，請詳細填寫理由於申請書，並經指導教授及儀器負責人同意後始可使用。 使用順序主要由申請書遞送時間決定，然儀器負責人亦有權視實驗之重要性與急迫性安排其優先順序。若儀器故障，則所有預約時間順延。 更換或取消預約時段必須於一日前先行通知儀器操作人員或儀器負責人，以便其它使用者遞補。 若為委託操作則申請人於實驗進行前需先與儀器負責人討論其使用需求，且於實驗進行期間須全程在場協助。 若申請人欲自行操作，則須提出其曾學習掃針顯微術相關課程之證明，繼而接受本實驗室之XE-100操作訓練及實機考試後方可於本實驗室人員陪同下自行操作儀器。 本實驗室XE-100機台可供操作之模式及功能詳附件一或網址: HYPERLINK .tw/ct.asp?mp=3788xItem=57807CtNode=557 .tw/ct.asp?mp=3788xItem=57807CtNode=557。 由於探針為消耗品因此申請人需自備探針(若以合作研究方式進行儀器使用則不在此限，但請事先與儀器負責人聯繫合作事宜)；另若需本實驗室代為測試適合之探針型式則將使用舊探針作為試驗。 樣品之重量、大小及高度分別不得超過300公克、2英吋直徑及2公分。 若測試樣品為粉末則需固著於基板後方可進行掃描。 暫不接受液態樣品或具揮發性及毒性之樣品量測。 於實驗期間若有特殊狀況發生則需於申請表下方註記特殊狀況內容，以供日後追蹤及儀器維護。 使用後需將儀器週邊清理乾淨，樣品實驗完成後請自行帶回，遺留在試片載台或儀器週邊的樣品將一律丟棄，以維整潔。 本儀器之詳細使用規範、儀器操作及影像分析之相關問題，可直接與儀器負責人聯繫討論。 實驗申請人於使用期間需遵守本實驗