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时序电路状态覆盖向量的遗传方法筛选-中国科学院
第 卷 第 期 计算机辅助设计与图形学学报 ，
18 2 Vol.18 No.2
年 月 ，
2006 2 JOURNALOFCOMPUTER-AIDEDDESIGN COMPUTERGRAPHICS Feb. 2006
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时序电路状态覆盖向量的遗传方法筛选
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杨修涛12 鲁 巍12 李晓维1
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1 （中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室 北京 ）
100080
）
2 （中国科学院研究生院 北京 ）
100039
（ ）
xiutaoan@ict.ac.cn
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摘 要 传统的状态覆盖方法对电路的数据单元测试不足，而随机测试方法又具有盲目性 在综合 种方法的基础
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上，给出一种以状态与状态转换覆盖率为评估、以遗传筛选为工具对生成的测试向量进行择优选择的方法 为了指
.
导测试生成，给出了动态状态转换与静态状态转换概念 同时，基于该方法给出一个测试生成工具 最后，将
. GRTT.
文中方法实验于ITC99-benchmark电路，并将实验结果与测试生成系统X-Pullin 的结果进行比较.
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关键词 静态状态转换；动态状态转换；遗传算法；测试向量生成
中图法分类号 TP391.76
GeneticSelectin TestPatternsthatCoverStatesofSeuentialCircuitsat
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RT-Level
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Yan Xiutao LuWei LiXiaowei
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1 （ ， ， ， ）
AdvancedTestTechnolo Laborator Instituteo Com utin Technolo ChineseAcadem o Sciences Beiin 100080
gy y f p g gy y f j g
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2 （ ， ）
GraduateUniversit o ChineseAcadem o Sciences Beiin 100039
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Abstract Themeritandshortcomin oftraditionalstatescoverin methodand eneticmethodare
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