集成电路用磷铜阳极及相关问题研究.docVIP

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  • 2018-10-03 发布于湖北
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集成电路用磷铜阳极及相关问题研究.doc

集成电路用磷铜阳极及相关问题研究   摘要:随着半导体技术的发展,铜互联技术在集成电路的设计和制造中成为主流技术,铜互连采用双大马士革工艺(Dual Damascene)进行电镀。集成电路用磷铜阳极在电镀过程中起着至关重要的作用,本文系统分析了磷铜阳极中磷的含量、铜的纯度、晶粒尺寸和氧含量等对集成电路电镀性能的影响。   关键词:集成电路;电镀;磷铜;阳极;   中图分类号:TQ153.1      Phosphorized Copper Anode in ULSI and studies on related problems      GAO Yan1,2,WANG Xin-ping1,2,HE Jing-jiang1,2,LIU Hong-bin1,2,JIANG Xuan1,2,JIANG Yu-hui1,2   (General Research Institute for Non-ferrous Metals, Beijing 100088,China)    (GRIKIN Advanced Materials Co., Ltd., Beijing 102200,China)      Abstract: With the development of semiconductor technology, copper interconnect

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