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LED器件光强分布测试的方法进展 　　摘要： 针对LED器件光强分布的测试方法，在传统光源配光曲线的测试原理的基础上，阐述了旋转法、多探测器法测试LED光强分布的方法。由于这些方法存在测试时间长、测量准确度低以及定标繁琐的缺陷，进而介绍了一种新型测试方法及装置，即通过CCD光度探测器接收光强度，经过CCD的光电转换功能将光强度信号转换为电信号，再通过成像系统软件便可得到整个半球面空间内壁的光强图。新的测试方法具有测试速度快、精度高、信息量丰富和直观性的显著优点。 　　关键词： 发光二极管（LED）； 配光曲线； 光强分布 　　中图分类号： TN 36文献标志码： Adoi： 10.3969/j.issn2014.06.019 　　引言LED（发光二极管）作为最新型的第四代照明光源逐渐被应用于普通的照明领域，不同于传统照明光源，无论是LED的发光原理还是LED的发光特性，甚至包括其发光驱动特性以及光源结构，都有着显著的差别。由于LED的特殊性，对于LED光强分布的特性测试，需采取相应的测试方法和技术[12]。由于目前国内业界缺乏明确的LED发光强度标准，造成LED光强分布测试技术的滞后。现有的LED光强分布特性的测试，往往采用传统光源配光曲线的测试方法，将LED视为一个点光源，回避了LED光源特性测试方面存在的技术难题。该方法得到的结果并不能真正反映LED独特照明原理的发光特性。如何准确测量LED空间光强分布方法[3]以及获得LED空间光强分布三维图成为当今业界研究的重点课题。目前普遍使用的传统配光曲线[45]大多采用旋转的方法测试，能够准确得到在一个二维平面上光源的光强分布曲线。然而，要正确反映LED器件的发光强度的空间分布特性仅仅一个或几个平面的配光曲线图是不够的。本文着重介绍三种LED光强分布测试方法。其中旋转法是由传统配光曲线的原理扩展而来，现在已有厂家依照该原理生产能够测试LED空间光强分布曲线的仪器；多探测器法则是现在国内新的科研成果，可以实现LED光源光强分布的快速测试，其特点是测速快、精度高、信息量丰富，较旋转法更具时实性与直观性，同时还介绍一种国外新型的测试方法[6]。1三种方法研究进展及优缺点对比传统配光曲线测试一般可分为两种：一种是LED固定不动，接收光线的光度探测器围绕它旋转扫描；另外一种是光度探测器不动，LED围绕封装外壳的顶点作旋转扫描。图1是典型的配光曲线测试原理图，采用的是将光度探测器固定不动，令LED绕探测器旋转，随着LED的旋转，光度探测器即时接收其光强。由此，LED旋转180°之后可以得到整个平面上LED的光强度的分布、其准确度取决于探测器获取LED光强的频率以及探测器的接收灵敏度。 　　1.1旋转法（1）原理方法在旧式配光曲线测试方法的基础上，若是多增加一个轴旋转，就可以人为设定依次获得多个不同角度的配光曲线，再通过数据整合传入计算机，利用软件将其模拟化，就能形成一个空间三维的LED光强分布图像[7]。旋转法原理如图2所示。旋转法是在传统配光曲线测试方法基础上，增加了一个C轴，该C轴是LED光轴物理中心到探测器中心的连线。在测量时，C轴不旋转，V轴做180°的旋转，可获得一个平面LED配光曲线图。然后再旋转C轴一固定角度（测量者可自行制定该分度），再次固定C轴，旋转V轴，这样又可以获得另外一个不同角度平面上的配光曲线。经过多次测量（测量次数与制定C轴旋转分度大小有关）可得出整个空间中多个平面的配光曲线，再经过计算机整合，即可以得到完整的空间光强分布曲线。该方法是基于先测试平面的光强分布曲线，再设定一个旋转轴，并且通过360°的旋转，经多个角度多次测量来获得整个空间光强分布的目的。另外一种旋转法如图3所示，同样是通过设置两个旋转轴，得到多个不同角度平面的配光曲线图，整合成一个空间光强分布曲线。该方法是CIE（国际发光照明委员会）推荐的测试小功率发光器件的光强分布测试方法。 　　该方法中，发光器件安装在垂直轴线和水平轴线的交点处，因此可以设置两个方向旋转的转台，并使该转台的垂直轴线固定，水平轴线可以移动，探测器被固定在离发光器件一定距离的位置上。测试过程中，由电机驱动垂直轴旋转，光度探头测量发光器件在水平面上各方向的发光强度或照度值，由此可以获得发光器件在此平面上的发光强度或照度的分布曲线[8]。当一个平面测量完毕，由电机驱动水平轴使发光器件转过一个设定的角度，然后再测量当前平面上的发光强度或照度值并获得该平面的分布曲线。因此，随着发光器件水平轴的间歇运动和垂直轴往复旋转，最终可以实现发光器件在各个方向上的发光强度或照度的分布特性的测量。（2）旋转测量方法优缺点旋转法是现今使用最广泛的一种测量LED光强空间分布的方法，其使用操作方便，测量准确性高，并且测量仪器