基于A567进行运算放大器DC参数测试技术的研究.docVIP

基于A567进行运算放大器DC参数测试技术的研究 　　摘要：运算放大器作为一种通用器件，其测试技术比较成熟。为快速解决在测试过程中出现的问题，需对测试系统内部参数测试实现方式做深入了解。本文将以teradyne公司的混合信号测试系统A567为例，对运算放大器的测试理论及技术进行了分析，并提出了一种新的测试实现方式。 　　关键词：A567测试系统 运算放大器 测试 　　中图分类号：TN722 文献标识码：A 文章编号：1007-9416（2014）03-0059-02 　　运算放大器作为一种通用器件，在各个领域得到广泛应用，其测试技术比较成熟。国内外有许多测试集成运放参数的专用仪器，但各种参数测试电路差别很大。为了用统一的测量电路来自动测定集成运放的主要直流参数，我国在1986年颁布实施了《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》，其中规定了对运算放大器采用辅助放大器的方式进行。这是目前比较完善的一种方法并由国际电气技术委员会（IEC）通过，被列为国际通用的测试方法。 　　尽管大家都熟知运算放大器的DC参数的测试原理，但如何快速解决在测试过程中出现的问题，却需对测试系统内部参数测试实现方式做了解。本文将以teradyne公司的测试混合信号测试系统A567为例，分析运算放大器DC参数测试的具体实现方式，对运算放大器的测试做深入了解，以提高测试吞吐量，节约测试成本