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高速电路的电源完整性分析-电子与通信工程专业论文

学校代码 10701 学 号 1202121321 分 类 号 TN91 密 级 公开 西安电子科技大学 硕士学位论文 高速电路的电源完整性分析 作者姓名:王聪睿 领 域:电子与通信工程 学位类别:工程硕士 学校导师姓名、职称:史凌峰 教授 企业导师姓名、职称:张国铭 高工 提交日期:2014 年 12 月 Analysis of Power Integrity in the High-Speed Circuits A thesis submitted to XIDIAN UNIVERSITY in partial fulfillment of the requirements for the degree of Master in Electronics and Communication Engineering By Wang Cong-Rui Supervisor: Shi Ling-Feng Zhang Guo-Ming December 2014 西安电子科技大学 学位论文独创性(或创新性)声明 秉承学校严谨的学风和优良的科学道德,本人声明所呈交的论文是我个人在 导师指导下进行的研究工作及取得的研究成果。尽我所知,除了文中特别加以标 注和致谢中所罗列的内容以外,论文中不包含其他人已经发表或撰写过的研究成 果;也不包含为获得西安电子科技大学或其它教育机构的学位或证书而使用过的 材料。与我一同工作的同志对本研究所做的任何贡献均已在论文中作了明确的说 明并表示了谢意。 学位论文若有不实之处,本人承担一切法律责任。 本人签名: 日 期: 西安电子科技大学 关于论文使用授权的说明 本人完全了解西安电子科技大学有关保留和使用学位论文的规定,即:研究 生在校攻读学位期间论文工作的知识产权单位属于西安电子科技大学。学校有权 保留送交论文的复印件,允许查阅、借阅论文;学校可以公布论文的全部或部分 内容,允许采用影印、缩印或其它复制手段保存论文。同时本人保证,获得学位 后结合学位论文研究成果撰写的文章,署名单位为西安电子科技大学。 保密的学位论文在 年解密后适用本授权书。 本人签名: 导师签名: 日 期: 日 期: 摘要 摘要 由于电子产品的工作频率不停提升,系统的时钟边缘速率变得越来越快,供 电电压和噪声容限不断降低,导致信号的畸变已经到了影响电路功能实现的程度, 其中一个重要的原因就是同步开关噪声(SSN)会对高速电路的电源分配网络(PDN) 产生干扰。平面间的 SSN 可以引起谐振,而电源/地平面间的谐振现象又会使 SSN 变得严重。在印制电路板(PCB)上由噪声传播引起的电源完整性(PI)已经得到了广 泛的研究,并且提出了多种解决方法:添加去耦电容,使用电磁带隙(EBG)结构等。 本文在上述背景下,重点分析了 EBG 结构对 PDN 中 SSN 的抑制效果。首先 介绍了高速电路的发展历程及国内外发展现状,其次,介绍了 PDN 设计的基本组 成部分,重点讨论去耦电容的工作原理、设计方法、安装等内容;接着对 PDN 的 设计方法、噪声来源、直流压降进行了阐述。然后分析了 SSN 形成的原因及其抑 制方法以及各种的优缺点。最后详细地比较了两种经典的 EBG 结构:蘑菇型 EBG 结构和平面型 EBG 结构,分别阐述了它们的结构特点、等效电路分析模型及 SSN 抑制特性,并描述两种结构的优缺点。根据 EBG 结构的理论,设计了一种新颖的 T 型狭缝 L-EBG 结构。详细描述了该结构的设计特点,并将实测结果和仿真结果 进行对比,证实结构的可行性。使用集总元件电路模型与谐振腔模型分析估算了 T 型狭缝 L-EBG 结构的下截止频率与上截止频率。同时,使用 CST 仿真得到了结构 的直流阻抗,并根据获得的眼图,分析信号传输特性。通过与传统的开槽型 L-EBG 结构进行对比,得到以下结论:相比于传统的开槽型 L-bridge EBG 结构,T 型狭 缝 L-EBG 结构的抑制带宽增加到 7.29GHz,直流阻抗减小 19.33 %,眼图的 MEO 提高 40%。 关键词:电磁带隙结构, 电源分配网络, 同步开关噪声 论文类型:应用基础技术类 I 西安电子科技大学硕士学位论文 西安电子科技大学硕士学位论文 ABSTRACT ABSTRACT PAGE PAGE IV III III ABSTRACT With the trend of increasingly higher operating clock frequency, faster signal edge rate, and lower power supply voltage and noise margin, circuit funct

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