实验一 三基本逻辑门电路实验.pptVIP

74XX20引脚图 74XX02引脚图 74XX51引脚图 74XX86引脚图 74XX183引脚图 三人表决电路图 四人表决电路图 1位全加器电路图 数字系统设计基础实验内容 实验一 基本逻辑门电路实验 一、基本逻辑门电路性能（参数）测试 （一）实验目的 １.掌握TTL与非门、或非门和异或门输入与输出之间的逻辑关系。 ２.熟悉TTL中、小规模集成电路的外型、管脚和使用方法。 （二）实验所用器件 ｌ.二输入四与非门74LS00 1片 ２.二输入四或非门74LS02 1片 ３.二输入四异或门74LS86 1片 一、基本逻辑门电路性能（参数）测试 （三）实验内容 １．测试二输入四与非门74LS00一个与非门的输入和输出之间的逻辑关系。 ２．测试二输入四或非门74LS02一个或非门的输入和输出之间的逻辑关系。 ３．测试二输入四异或门74LS86一个异或门的输入和输出之间的逻辑关系。 一、基本逻辑门电路性能（参数）测试 （四）实验提示 1.将器件的引脚７与实验台的“地（GND）”连接，将器件的引脚１４与实验台的十5Ｖ连接。 2.用实验台的电平开关输出作为被测器件的输入。拨动开关，则改变器件的输入电平。 3.将被测器件的输出引脚与实验台上的电平指示灯(LED)连接。指示灯亮表示输出低电平（逻辑为０），指示灯灭表示输出高电平（逻辑为1）。 （五）实验接线图及实验结果 7400中包含４个二输入与非门， 7402中包含４个二输入或非门， 7486中包含４个二输入异或门，它们的引脚分配图见附录。下面各画出测试7400第一个逻辑门逻辑关系的接线图及测试结果。测试其它逻辑门时的接线图与之类似。测试时各器件的引脚７接地，引脚１４接十５Ｖ。图中的Ｋ1、Ｋ2接电平开关输出端，LED0是电平指示灯。 1、测试74LS00逻辑关系接线图及测试结果 2、测试74LS02逻辑关系接线图及测试结果 3、测试74LS86逻辑关系接线图及测试结果 二 、 TTL、HC和HCT器件的电压传输特性 (一)、实验目的 １.掌握TTL、和 HC器件的传输特性。 (二)、实验所用器件 １.二输入与非门７４ＬＳ０0 1片 ２.二输入与非门７４ＨＣ０0 1片 * 二 、 TTL、HC和HCT器件的电压传输特性 （五）、实验接线图及实验结果 １.实验接线图由于 74LS00、74HC00的逻辑功能相同，因此三个实验的接线图是一样的。下面以第一个逻辑门为例，画出实验接线图（电压表表示电压测试点）如右图 二 、 TTL、HC和HCT器件的电压传输特性 （三）、实验内容 １.测试TTL器件７４ＬＳ０0一个非门的传输特性。 ２.测试HC器件７４ＨＣ０0一个非门的传输特性。 二 、 TTL、HC器件的电压传输特性 （四）、实验提示 １.注意被测器件的引脚７和引脚１４分别接地和十5Ｖ。 ２.将实验台上４.７ＫΩ电位器RTL的电压输出端连接到被测非门的输入端，RTL的输出端电压作为被测非门的输入电压。旋转电位器改变非门的输入电压值。 ３.按步长0.2Ｖ调整非门输入电压。首先用万用表监视非门输入电压，调好输入电压后，用万用表测量非门的输出电压，并记录下来。 二 、 TTL、HC器件的电压传输特性 输入Vi(V) 输出Vo 74LS00 74HC00 0.0 0.2 … 1.2 1.4 … 4.8 5.0 ２.输出无负载时74LS00、74HC00电压传输特性测试数据 二 、 TTL、HC和HCT器件的电压传输特性 ３.输出无负载时74LS00、74HC00和 74HCT00电压传输特性曲线。 ４.比较三条电压传输特性曲线的特点。 尽管只对三个芯片在输出无负载情况下进行了电压传输特性测试，但是从图２.２、图２.３和图２.4所示的三条电压传输特性曲线仍可以得出下列观点: （1）74LS芯片的最大输入低电平VＩＬ低于74HC芯片的最大输入低电平VＩＬ，74LS芯片的最小输入高电平ＶＩＨ低于74HC芯片的最小输出高电平ＶＩＨ。 （２）74LS芯片的最大输入低电平ＶＩＬ、最小输入高电平ＶＩＨ与74HCT芯片的最大输入低电平ＶＩＬ、 最小输出高电平ＶＩＨ相同。 （３）74LS芯片的最大输出低电平ＶＯＬ高于74HC芯片和74HCT芯片的最大输出低电平ＶＯＬ。74LS芯片的最小输出高电平ＶＯＨ低于74HC芯片和74HCT芯片的最小输出高电平ＶＯＨ。 （４）74HC芯片的最大输出低电平 ＶＯＬ、最小输出高电平 ＶＯＨ与 74HCT芯片的最大输出低电平ＶＯＬ、最小输出高电平ＶＯＨ相同。 二 、 TTL、HC和HCT器件的电压传输特性 5．在不考虑