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基于pdvq算法的asic芯片及编码系统的设计-微电子学与固体电子学专业论文.docxVIP

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基于pdvq算法的asic芯片及编码系统的设计-微电子学与固体电子学专业论文

基于 PDVQ 算法的 ASIC 芯片及编解码 系统的设计 学 科: 微电子学与固体电子学 作者姓名: 张玉伦 签名: 指导教师: 余宁梅 教授 签名: 答辩日期: 摘 要 图像压缩算法的研究具有重大的经济意义,历来是图像研究领域的热点课题。矢量量化 (VQ)是一种简单高效的图像压缩算法,其压缩比高于普通的标量量化算法,同时其算法 结构简单,适合于硬件实现,可获得很高的处理速度,用于实现图像的实时压缩传输领域, 近年来受到研究人员的普遍关注。 本课题组在传统矢量量化算法的基础上,开发了一种快速矢量量化算法 PDVQ 算法, 并且使用 Verilog 硬件描述语言编写了相关的 RTL 级代码。本文在此基础上,按照主流的 ASIC 设计流程,设计完成了 PDVQ 芯片。 首先,本文根据可综合代码风格,利用 Modelsim 工具,对原有 RTL 代码进行验证和优 化,并且选择和设计了合适的可测性方案。 然后在特许半导体的 0.35um CMOS 工艺库下,采用 Synopsys 公司的 DesignCompiler, 设计合适的约束条件,对代码进行了综合,得到门级网表。对门级网表的仿真采用 Modelsim。 在布局布线阶段,选用了 Apollo 软件进行布局布线,使用 Avant!的 Star-RCXT 软件提 取版图参数,使用 Modelsim 进行后仿真。并且使用 PrimeTime 对设计进行了静态时序分析。 最后,对版图进行了 DRC 和 LVS 验证,并交付代工厂商流片。 PDVQ 芯片采用全局单一时钟,最高工作频率是 100MHz。对于采用中等复杂度, 512 × 512 像素的标准图像进行测试,压缩时间小于 20ms,表明芯片每秒可以处理 50 帧左右 的图像。芯片面积是 2.08×2.08 mm2 ,动态功耗为 242.26mW,静态功耗为 66.64uW。 在 PDVQ 算法的基础上,本文提出了一种与之兼容的具有更高压缩比的算法,可以充 分利用图像的冗余信息,减少计算量。对于 10 幅标准图像的实验结果表明,该算法的平均 压缩比提升 25%左右,但是表示图像质量的峰值信噪比(PSNR)平均仅下降 1.24%。该算 法可以用 FPGA 实现,作为 PDVQ 芯片的前端,构成高性能的图像编解码系统,具有较好 ★ 本研究得到国家自然科学基金项目资助,基金号的灵活性和应用价值。 关键字:ASIC PDVQ 矢量量化 图像压缩 Design of PDVQ based ASIC chip and codec system Subject: Microelectronics and Solid Electronics Graduate Student: Zhang Yulun Tutor: Prof. Yu Ningmei Graduate Date: ABSTRACT Because of the immense values of image compression, relevant research has always been the hot topic of image field. VQ(Vector Quantization) is a simple but efficient image algorithm with high CR(compression ratio), its CR is higher than traditional scalable methods. VQ algorithm is easy to implant in hardware, which can achieve very fast process speed, used in real-time image process applications. So VQ has become an interesting topic recent years. Based on traditional VQ algorithm, a fast PDVQ algorithm was developed, and its RTL code was wrote in Verilog HDL. This paper finishes the ASIC design of PDVQ chip according mainstream design flow. First, the verification and optimization work was done to make the RTL code synthesizable. To improve the testability, we desi

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