基于fpga的故障注入系统研究-计算机技术专业论文.docxVIP

万方数据 万方数据 Classified Index: TP302.8 : 621.3 Dissertation for the Master Degree in Engineering RESEARCH OF FAULT INJECTION SYSTEM BASED ON FPGA Candidate： Hong Yingsen Supervisor： Prof.Zhenzhou Ji Academic Degree Applied for： Master of Engineering Speciality： Computer Technology Affiliation： School of Computer Science and Technology Date of Defence： June, 2014 Degree-Conferring-Institution： Harbin Institute of Technology 摘 要 摘 要 随着新型国产多核处理器在航天军用等领域的应用越来越多，对新型国产 多核处理器计算平台的可靠性愈来愈重要。针对可靠性进行验证，主要是在基 于龙芯以及在航天国防上有广泛应用的 SPARC 多核处理器可靠性 FPGA 仿真验 证平台。 航天国防中的电子系统愈来愈复杂，FPGA 作为数字系统中的代表，有着 集成度高、研发成本低、开发周期端等优点，因而被广泛应用于航天国防。然 而，在太空的辐射环境中，存在各种各样的高能粒子，高能粒子对 FPGA 的影 响格外显著，其原因是高能粒子可以改变 FPGA 内部的配置存储器的信息，即 发生配置存储器的 0/1 翻转。高能粒子或者改变 FPGA 逻辑功能区的配置信息 使系统中断，或者改变 FPGA RAM 单元使数据错误或者丢失，都将最终导致运 行在 FPGA 上的系统或者功能部件异常甚至失效。 在一般情况下，没有条件模拟外太空的辐射环境，为了验证新型国产多核 处理器计算平台的可靠性，需要软件模拟外太空辐射环境。Xilinx 公司有一类 IP 核，软错误缓解（SEM）IP 核可以实现模拟 FPGA 芯片上的逻辑状态的翻转。 为了实现可靠性 FPGA 仿真验证平台的搭建，模拟单粒子翻转效应，本文 在分析了 SEM 核结构的基础上，研究设计了对 FPGA 内部的配置存储器信息的 改变的方法，即基于 FPGA 故障注入系统的研究。本文搭建了以 Xilinx Spartan-6 FPGA 芯片为核心的单粒子翻转的测试验证平台；研究了对 FPGA 芯片内部的 配置存储器信息进行回读的原理；最后，设计完成了回读配置信息的方法与故 障注入信息内容，设计了基于 VS 2010 的软件，对故障注入信息与回读配置信 息进行对比，得出模拟环境的正确性。 通过在本文设计的系统上的实验，分析结果表明，SEM 核能进行故障注入， 实现很大相似度的 SEU 效应；基于配置信息的回读与故障注入的信息能够显示 出，再次验证了单粒子翻转效应的成功实现。 关键词：FPGA；SEU；配置与回读；故障注入 - I - Abstract Abstract With the new multi-core processors in the domestic military aerospace and other fields, more and more of the new domestic multicore processors become increasingly important computing platform reliability. For reliability verification, based mainly in the aerospace and defense Godson has wide application reliability multicore processors SPARC FPGA simulation platform. Aerospace and defense electronic systems become more complex, user-configurable FPGA configuration with functional diversity, the development of low cost, low power consumption, etc., which are widely used in aerospace defense. However, in the space radiation environment, there are a wide variety of high-ener