电磁场与微波实验报告波导波长的测量.docVIP

电磁场与微波实验报告波导波长的测量.doc

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电磁场与微波测量实验报告 学院: 班级: 组员: 撰写人: 学号: 序号: 实验二波导波长的测量 实验内容 波导波长的测量 【方法一】两点法 实验原理如下图所示:按上图连接测量系统,可变电抗町以采用短路片。 【方法一】两点法 实验原理如下图所示: 按上图连接测量系统,可变电抗町以采用短路片。 当矩形波导(单模传输TE10模)终端(Z = 0)短路时,将形成驻波状态。波导内部电 场强度(参见图三之坐标系)衣达式为: e = ey e = ey =E()sin (——)sin 0Z a 在波导宽而中线沿轴线方向开缝的剖而上,电场强度的幅度分布如图三所示。 将探针由缝中插入波导并沿轴向移动,即可检测电场强度的幅度沿轴线方向的分布状态 (如波节点和波腹点的位置等)。 两点法确定波节点位置 将测量线终端短路后,波导内形成驻波状态。调探针位置旋钮至电压波节点处,选频放 人器电流表表头指示值为零,测得两个相邻的电压波节点位置(读得对应的游标卡尺上的刻 度值7;和3),就可求得波导波长为: 由于在电压波节点附近,电场(及对应的晶体检波电流)非常小,导致测量线探针移动 “足够长”的距离,选频放人器表头指针都在零处“不动”(实际上是眼睛未察觉出指针有 微小移动或指针因惰性未移动),因而很难准确确定电压波节点位置,具体测法如下: 把小探针位置调至电压波节点附近,尽量加大选频放大器的灵敏度(减小衰减量),使 波节点附近电流变化对位置非常敏感(即小探针位置稍有变化,选频放人器表头指示值就有 明显变化)。记取同一电压波节点两侧电流值相同时小探针所处的两个不同位置,则其平均 值即为理论节点位置: Gn 弓 GT) 最后可得怎=2 7;in-T 最后可得怎=2 7;in-Tmi (参见图四) 【方法二】 间接法 矩形波导中的Hi。波,自由波长入°和波导波长2g满足公式: . 2 7V 2a) 其屮:2g=3xl0* 仃,a=2.2S6cm 通过实验测出波长,然后利用仪器提供的对照表确定波的频率,利用公式 C 入0 确定出入0,再计算出波导波长2g。 校准晶体二极管检波器的检波特性 由于微波晶体检波二极管的非线性,在不同信号幅度时具有不同的检波律。在一般测量 精度要求的场合,可认为在小信号时为平方律检波,大信号时为直线律检波,或在系统信号 幅度范围内做平均检波律定标。品体检波二极管的定标准确与否,一育接影响微波和关参数的 测量精度。 微波频率很高,通常用检波晶体(微波晶体二极管)将微波信号转换成直流信号检测出来。 微波晶体二极管是一种非线性元件,检波电流I同微波场强E之间不是线性关系,在一定范 围内,两者关系为: I 二 KE9 晶体检波二极管的检波电流随具微波电场而变化,当微波场强较人时近似为线性检波 律,当微波场强较小时近似为平方检波律。因此,当微波功率变化较人时a和k就不是常数, 且和外界条件有关,所以在粘密测量中必须对晶体检波器进行定标。 本实验中來川两种定标方法 第一种定标方法 检波电压U与探针的耦合电场成正比。晶体管的检波律n随检波电压U改变。在弱 信号工作(检波电流不人于10 Li A)情况卜,近似为平方律检波,即n=2;在大信号范围, n近似等于1,即直线律。 测暈晶体检波器校准曲线最简便的方法是将测暈线输出端短路,此时测暈线上载纯驻波, 其相对电压按正弦律分布,B|J: U . (2nd =sin % I血 式中,d为离波节点的距离,Umax为波腹点电压,Xg为传输线上波长。 因此,传输线上晶体检波电流的表达式为 I = C sin 根据上式就可以用实验的方法得到图所示的晶体检波器的校准曲线。 将上两式联立,并取对数得到: lg/ = lg/ = K + algl ? 2兀1 sm -— 作出曲线,若呈现为近似i条直线,则直线的斜率即是微波晶体检波器的检波律。 第二种定标方法 测暈线终端短路,测出半峰值读数间的距离W,晶体检波率可以根据下式计算: log 0.5 logcos(孚) 实验步骤 实验步骤 (1) 、按照图示连接好测量系统 (2) 、利用两点法测量,将波导测量线终端短路,调测量放大器的衰减量和可变衰 减器使当探针位于波腹时,放人器指示电表接近满格,用公式两点法测量波导波长 (3) 、利用间接法测量波导波长。 (4) 、将探针沿测量线市左向右移动,按测量放大器指示每改变最大值刻度的10%, 记录一次探针位置,给出U沿线分布的图形 (5) 、设计表格,用驻波测量线校准晶体的检波特性 三.实验结果分析 所测量的波导波长:43 波节点do的位置:153 相对 电场 强度 0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1.0 d (理 论值) 0 % 63 入8 31.3 20^6 入8 15.

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