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第 卷 第 期 液晶与显示
３０ ４
Vol．３０ No．４
ChineseJournalofLiuidCrstalsandDislas
年 月 q y p y
２０１５ ８ Au．２０１５
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文章编号: ( )
１００７Ｇ２７８０２０１５０４Ｇ０５６６Ｇ０５
残影不良分析及改善对策研究
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艾 雨 蒋学兵
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合肥鑫晟光电科技有限公司 安徽 合肥 ２３００１２
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摘要 通过对大量残影不良样品进行分析 找到了残影不良产生的原因 并基于分析结果设计了改善残影的实验 通过
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分析发现 残影不良产生的原因是彩膜侧像素与黑矩阵之间的段差过大 在摩擦工程时段差过大区域形成了摩擦弱区
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摩擦弱区内的液晶分子配向较弱 导致不良产生 为降低残影不良进行实验 结果显示 在彩膜侧加覆盖层可以有效降
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低残影不良的发生率 但不适用于量产 通过采用高预倾角的配向膜材料 同时控制配向膜工程到摩擦工程的时间 可使
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残影不良发生率由２８．２％降低至 ０．２％ 为企业的稳定高效生产奠定了基础
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关 键 词 残影 扭曲向列型 预倾角 面板
中图分类号: 文献标识码: : /
TN１４１ A doi１０．３７８８YJYX０５６６
Analsisandresearchofslowcharin
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AIYu JIANGXueＧbing
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HeeiXinshen O toelectronicsTechnolo Co．Ltd Heei２３００１２ China
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