统计过程控制(SPC)9.pptVIP

统计过程控制（SPC） zen 要点 1、理解质量控制、过程控制和统计过程控制的关系 2、过程能力和过程能力指数，学会如何计算 3、影响过程能力指数的主要因素 4、过程能力指数和不合格率之间的关系 5、利用过程分析方法解决过程控制中的实际问题 6、控制图 质量控制的三个内容 1、识别并确定过程，以做到及时发现和排除产品实现过程中的变异，使上（过程）工序的问题不带到下一（过程）工序中去，以保证过程的稳定性和产品质量的一致性，这是一项预防性工作，简称过程控制。 2、按规定的检验方案，对过程和产品（包括原材料、半成品）进行检验，使检验合格的产品保持一定的质量水平。这是一项验收、鉴定性工作。 3、通过质量审核、管理评审、过程控制、产品检验以及顾客反馈等提供的信息，研究分析＆改进过程，并最终使交付的产品能持续满足顾客的要求。这是一项改进性工作，简称过程改进。 质量控制的重点：过程控制 1、过程是一组输入转化为输出的相互关联或作用的活动； 2、过程方法的重点是对每一过程实施有效的控制，并基于对过程的测量＆分析，使过程得到持续改善。 统计过程控制 1、用统计技术进行过程控制，称统计过程控制，简称SPC（STATUSTICAL PROCESS CONCTROL) 2、 1924年，美国贝尔电话实验室的休哈特首创。 統計基本概念的理解 散布的計算 S(總變動：Total Sum of Squares):偏差平方和 無偏方差(Unbiased Variance):S除以自由度（n-1） 無偏方差的開方or標準偏差 統計基本概念的理解 統計基本概念的理解 可以說明擁有高Sigma值的工序，具備不良率低的工序能力 Sigma值越大品質費用越少，周期越短。 統計基本概念的理解 正態分布：N（60，52） 標準正態分布：N（0，12） 70分的情況下Z-值是 假如規格上限是75分的話，現在的工序能力是Z=2或是2σ。 Z值是已測定的標準偏差（σ）有幾個能进入平均值到规格上下界限（USL，LSL）之间的测定值。 需要什麼樣的管理？需要什麼樣的技術 6 sigma的品質水準是什麼？ 正態分布的平偏移（±1.5 σ） 按規格變化和平均值偏移的不良率 工序能力 工序能力的數學式 兩側有規格的工序能力 工序能力 有偏移時的工序能力 工序能力 用語解釋 K：偏移系數（如果K=0，Cp=Cpk） M（Mid-range）：規格的中心 T（Tolerancne）：公差 SU（Upper Spec）：規格上限 SL（Lower Spec）：規格下限 工序能力 只有規格上限時的工序能力 工序能力 只有規格下限時的工序能力 例题 1、某零件的热处理温度为760±5°C，长期测试结果炉温服从（760，2）的正态分布，计算工序能力指数。 此题中的M＝μ＝760，δ＝2， Cp＝10/12＝0.83 2、假如温度设定为760±8°Cp＝16/12＝1.33 3、假如分布是（762，2）温度设定为760±8°时 Cpk＝（1-K）×Cp＝（T-2ε）/6 δ＝（（16－（762-760））/（6*2）＝1 六、制程能力等级判断及处理建议 A、CP B、CPK 工序能力指数与不良率 P＝2-（Φ（3Cp（1+K））+ Φ（ 3Cp（1-K））） 例题：某零件的热处理温度，假如分布是（762，2）温度设定为760±6°时 计算得出： Cpk＝（1-K）×Cp＝（T-2ε）/6 δ＝（（16－（762-760））/（6*2）＝1 1、Cp＝1，k＝2ε/T＝0.333 2、 P＝2-（Φ（3Cp（1+K））+ Φ （3Cp（1-K）））＝2- （Φ（3*1（1+0.333））+ Φ（ 3*1（1-0.333）））＝2-（ Φ（3.9999）+ Φ(2))=2-0.9999683-0.97725=0.02278 3、用Z值计算不良率得到的结果一致。 离散型數據分析 用語解釋 D（Defect）：缺陷or不良（事項） 為了滿足顧客的要求事基而浪費的再作業或失敗的工作。 例：把顧客的要求事項記錯的差錯情報。 DO（Defect Opportunity）：機會損失（缺陷） 可能引發的機會損失（缺陷）的行動或事件。 例：須在一張要求式樣上記錄的項目數 离散型數據分析 U（Unit）：元件 元件測定可能機會的細節 例：要求樣式 DPU（Defect Per Unit）： 每個元件內存在的缺陷數 DPO（Defect Per Opportunity）：每個機會損失數 离散型數據分析 DPMO（Defect Per Million opportunity）（每百萬要會損