仪器分析_张新荣_X射线荧光.pptVIP

X射线与X射线光谱 3.X射线的吸收 光电吸收——入射的X射线被物质所吸收 dI0=-I0 ?l dl ?l：线性衰减系数； dI0=-I0 ?m dm ?m：质量衰减系数； dI0=-I0 ?n dn ?n：原子衰减系数； 衰减系数的物理意义：单位路程 (cm)、单位质量(g)、单位截面(cm2) 遇到一个原子时，强度的相对变化（衰减）； 符合光吸收定律： I = I0 exp(- ?l l ) 固体试样时，采用 ?m = ?l /? （ ?：密度）； X射线与X射线光谱 X射线的强度衰减：吸收+散射； 总的质量衰减系数?m ： ?m = ?m + ?m ?m ：质量吸收系数； ?m ：质量散射系数； k：随吸收限改变的常数； Z：吸收元素的原子序数； ? ：波长； NA：Avogadro常数；Ar ：相对原子质量； X射线的? ↑； Z ↑，越易吸收； ? ↓，穿透力越强； X射线与X射线光谱 吸收限：一个特征X射线谱系的临界激发波长； 在元素的X射线吸收光谱中， 质量吸收系数发生突变；呈现非连续性；上一个谱系的吸收结束，下一个谱系的吸收开始处； 能级(M→K)↓,吸收限(波长)↓，激发需要的能量↑。 X射线与X射线光谱 散射吸收 除了真吸收外，散射作用也能使入射X射线强度减弱。X射线通过物质时强度的衰减是受到物质的吸收和散射的结果。由于吸收和散射两者的无关性，因此，通常将?m 表示为质量真吸收系数和质量散射系数之和。 对轻元素而言，主要是散射吸收，即非相干散射所造成的入射X光的减弱。 电子偶的生成 它要求X射线的光子的能量至少必须打到1.022兆电子伏特。此高能光子可被原子核吸收而产生电子偶，但这与常规的X射线管激发方式关系不大。 X射线荧光分析 一、X射线荧光的产生 特征X射线荧光--特征X射线光谱 当X射线的能量使K层电子激发产生光电子后，L层电子便落入K层空穴，这时能量△E=EX-EL以辐射形式释放出来，即Kα射线，也就是荧光X射线。 X射线荧光 ? 次级X射线 ? (能量小) (能量大) 激发过程能量稍许损失； 依据发射的X射线荧光 ? ，确定待测元素——定性 X射线荧光强度——定量 X射线荧光分析 X射线荧光 外层电子跃迁↓L 碰撞 内层电子跃迁↑ 空穴 原子内吸收 另一电子激发 电子能谱分析 自由电子 X射线荧光分析 二、俄歇效应 Auger电子：后来所逐出的较外层的电子。 这种效应称为次级光电效应，内转换或无辐射跃迁。 各元素的Auger电子能量固定——电子能谱分析法的基础。 Auger效应 竞争 几率 荧光辐射 X射线荧光分析 对于同一个原子来说，激发态原子在弛豫过程中释放的能量只能用于一种发射，或者发射荧光X射线，或者发射俄歇电子。对于大量原子来说，两种过程就存在一个几率问题。如果以A表示俄歇电子的几率，以ω表示荧光X射线的发射几率，两者之间的关系应为： A+ ω =1 原子序数小于11的元素，A接近于1 ，激发原子在弛豫过程中主要发射的是俄歇电子； 原子序数为33时，A值与ω值相交，A= ω=0.5,两者各占一半； 原子序数较大的重元素的A较小， ω较大，主要发射荧光X射线。所以通常荧光X射线仪测定轻元素较难。 X射线荧光分析 三、莫斯莱定律 元素的荧光X射线的波长( ? )随元素的原子序数( Z )增加，有规律地向短波方向移动。 式中K，S为常数，随谱系(L，K，M，N)而定，Z为原子序数。 莫斯莱的发现对于揭示元素周期表上各元素的内在联系、原子内部结构和一些新元素的发现都做出了重大的贡献，它也是X射线荧光的定性分析的数学基础。 X射线荧光分析 一、概述 二、X射线和X射线谱 三、X射线荧光分析 概述 1895年德国物理学家---“伦琴”发现X射。1895-1897年伦琴搞清楚了X射线的产生、传播、穿透力等大部分性质，为X射线衍射分析奠定了基础，并于1901年凭此获诺贝尔奖。 1912年劳埃进行了晶体的X射线衍射实验，发展了原级X射线光谱分析方法。 自20时世纪四十年代，次级发射光谱即X射线荧光分析开始蓬勃发展。 概述 一束X射线通过物体后，其强度由于散射和吸收将被衰减，并且吸收是造成强度衰减的主要原因。 概述 什么是X射线荧光？ 当X射线照射物质时，除发