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一种XLPE电缆料中杂质颗粒高分辨力测量的方法-电机与控制学报
14 7 Vol. 14 No. 7
第 卷 第 期 电 机 与 控 制 学 报
20 10 7 E LE CT RI C MA C HI NE S A ND C ONT R OL July 20 10
年 月
一种XLPE 电缆料中杂质颗粒高分辨力测量的方法
, ,
崔思海 赵洪 王暄
( , 150040)
哈尔滨理工大学电气与电子工程学院 黑龙江哈尔滨
: , ,
摘 要 通过分析透镜的成像规律 提出了一种利用光学系统的小孔对光的衍射作用 使像函数的特
, (XLPE)
定部分进行了展宽 在不损失测量速度的情况下进一步提高交联聚乙烯 电缆绝缘中杂质颗粒
。 CCD ,
测量分辨力的新方法 在尺寸测量解算中利用三次样条函数对 像元输出进行插值 计算出阈值
, 。
对应的位置 再由测量阈值计算出该值对应的像元位置 基于该原理工作的测量系统可获得分辨力
20 m , ± 5 m , 1 kg 。
为 μ 准确度为 μ 的实际测量结果 并且测量速度约每小时 该方法能够实现对高压交
(XLPE) 、 。
联聚乙烯 电缆绝缘料和电缆超净生产中的杂质颗粒高速 高分辨力自动检测
: ; ; ;
关键词 高分辨力 准确度 杂质测量 电缆绝缘料
中图分类号:TP274 文献标志码:A 文章编号:1007- 449X (2010)07- 0087- 04
Method of high resolution measurement for contamination
particles in XLPE insulating compound
CUI Si-hai , ZHAO Hong , WANG Xuan
(School of Mechanical & Power Engineering ,Harbin University of Science and Technology ,Harbin 150080 ,China)
Abstract :By analyzing laws of the lens image ,a new method with high resolution and speed of inspecting
the contamination particles in XLPE insulating compound ,which used the pinhole diffraction effect of the
lens to broaden the special part of image
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