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电池EL黑区问题以及解决方案 郭宽新 张斌宋江吴小元 2015. 11.05 主要内容 电池组件EL黑区背景介绍 多晶电池EL黑边以及解决方案 4 多晶电池其他黑区原因与分析 © 2012 Hareon Solar Technology Co., Ltd. 一.电池EL黑区背景介绍 ——EL检测原理 EL实验装置示意图 (a)0偏压下P-N结能带图，(b)正向偏压下 P-N能带图 光强与少子扩散长度的关系曲线 EL原理能带图 © 2012 Hareon Solar Technology Co., Ltd. 一.电池组件EL黑边背景介绍 --EL黑区来源 硅料 硅锭 硅片 电池片 组件 L型 污染 隐裂 隐裂 整体发 I型 断删 暗 划痕 虚焊 位错团 表面异常 EL黑区最常见的是L型，I型，位错团，以及单晶黑心几种形式 © 2012 Hareon Solar Technology Co., Ltd. 一.电池EL黑区背景介绍 ——电池EL检测结果 I边角 L黑边 片状污染 絮状黑区 断栅 黑心片 隐裂 反偏漏电 本报告主要研究解决边角黑边问题 © 2012 Hareon Solar Technology Co., Ltd. 一.电池EL黑区背景介绍 ——组件端常见的情况 黑边，L,I型 表面污染 位错团 位错线/ 隐裂 区最为常见的L,L型黑边，以及位错团和位错线 © 2012 Hareon Solar Technology Co., Ltd. 二 .多晶电池EL黑边以及解决方案——多晶电池EL黑边 PL DL扫 描图 IQE扫描图 （874nm ） 通过PL和IQE扫描测试，判断电池EL图像黑区是硅片的少子寿命较低导致的。