基于March＋C-算法的单片机存储器测试.pdfVIP

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2019-03-19 发布于广西
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基于March＋C-算法的单片机存储器测试.pdf

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基于MarchC一算法的单片机存储器测试于文考，高成，张栋 (北京航空航天大学北京 100191) 摘要：为了保证单片机系统的可靠性，对单片机内嵌存储器的测试显得尤为重要。根据MCS一51系列单片机系统内嵌存储器的结构特点和故障模型，研究了测试算法的选择、数据背景的产生等问题，首次提出将MarchC一算法用于单片机故障，具有较高的故障覆盖率，适合于对用户级MCS一5l系列单片机存储器的测试。关键词：单片机；MarchC一算法；存储器测试；故障覆盖率中圈分类号：TP333 文献标识码：B 文章编号：1004—373X(2010)06—019一03 S on Testof BasedMarch SingleChipMicrocomputer7Memory C—Algorithm YU Wenkao．GAO Cheng，ZHANGDong (BeihangUniversity．Beijing．100191，China) Abstract：Inordertoensurethe of ofthe em— reliabilitysinglechipmicrotomputersystem，testsinglechipmicrocomputer bedded is accordancewithcharacteristicsandfaultmodelofMCS一51embedded memoryparticularlyimportant．In memory， are selectionofthetest andthedata researched，andthetest whichbasedonMarch algorithm background program C—algo— rithmforMCS一51 embedded forthefirsttimeinuser～levelis test singlechipmicrocomputermemory presented．Thepro— allof failureandsomeofNPSF a fault for canreach theSAF，TF，AF，CF failure，has testofMCS gram high coverage，suitable 一51 embeddedinuser—level． singlechipmicrocomputermemory test；fault Keywords：singlechipmicrocomputer；MarchC—algorithm；memorycoverage 转换，分别为上升状态转换故障和下降状态转换故障。 0引言 Fault，CF)