二第一章 材料科学研究与测试方法-绪论内容资料.pptVIP

* 物质波与加速电压之间存在如下关系 若电子速度较低，则其质量和静止质量相近，即 m=m0 * 若加速电压很高，使电子具有极高速度，则经过相对论修正，有 电子波长为： * 1.3.2 电子显微分析 高能电子束作光源，用磁场作透镜制造的，主要用来观察物体的形貌 观察物体的形貌的同时，还能测定物相的结构和微区化学成分。 透射和反光显微镜 基于电子束（波）与材料的相互作用 * 一种能够以原子尺度的分辨能力提供物理分析和化学分析所需全部功能的仪器 1）透射电子显微镜（TEM） A、电子束透过薄膜样品 B、用于观察样品的形态 C、通过电子衍射测定材料的结构，从而确定材料的物相。 * TEM 形貌--结构--成分三位一体分析 日立公司H－700 CM200-FEG场发射枪电镜 * JEM-2010透射电镜 EM420透射电子显微镜 * ①光电效应与荧光辐射 当用X射线轰击物质时，若X射线的能量大于物质原子对其内层电子的束缚力时，入射X射线光子的能量就会被吸收，从而也导致其内层电子（如K层电子）被激发，并使高能级上的电子产生跃迁，发射新的特征X射线。为与入射的X射线相区别，我们称X射线激发的特征X射线为二次特征X射线或荧光X射线。这种以光子激发原子所发生的激发和辐射过程称为光电效应。被击出的电子称光电子。与上述相同，产生的二次特征X射线的波长与激发它们所需的能量取决于物质的原子种类和结构。 * ②俄歇效应 在上述的激发与跃迁的过程中，当高能级的电子向低能级跃迁时，以辐射X射线的形式释放能量。还可以另一种形式释放能量，即这些能量被周围某个壳层上的电子所吸收，并促使该电子受激发逸出原子成为二次电子。由于这种二次电子原来是在原子的某个壳层上的，因此它具有特定的能量值。可以用来表征这些原子。这种效应是俄歇1925年发现的。故称俄歇效应，产生的二次电子称俄歇电子。利用该原理制造的俄歇能谱仪主要用于分析材料表面的成分。 ? * X射线的物理基础 （3）X射线的吸收 dIx ＝ Ix+dx－Ix X光减弱规律的图示 ?l为线吸收系数（cm-1)，与入射X射线束的波长及被照射物质的元素组成和状态有关。 ＝ ＝ -?l·dx * X射线的物理基础 X射线通过整个物质厚度的衰减规律： I/I0 = exp(-?l ? d) 式中I/I0称为X射线透射系数， I/I0 ＜1。 I/I0愈小,表示X射线被衰减的程度愈大。 X射线与物质的作用 * X射线的物理基础 X射线透射系数： I/I0 ， I/I0愈小,表示X射线被衰减的程度愈大。 线吸收系数，?l：就是当X 射线透过单位长度（1cm）物质时强度衰减的程度, ?l值愈大，则强度衰减愈快。 相关概念及物理意义 * X射线的物理基础 质量吸收系数 ?m：是单位质量物质（单位截面的1g物质）对X射线的衰减程度，其值的大小与温度、压力等物质状态参数无关，但与X射线波长及被照射物质的原子序数有关。 ?m = ?m /? ?为被照射物质的密度 相关概念及物理意义 cm2?g-1 * X射线的物理基础 质量吸收系数具有加和性： 相关概念及物理意义 或 * 金属铂的质量吸收系数随波长变化示意图 质量吸收系数是所用辐射波长及元素的原子序数的函数。 * X射线的物理基础 元素的质量系数?m是所用辐射波长及元素的原子序数的函数。 吸收与波长及原子序数的关系 a、b为常数，与吸收物质有关。 ?m=a?3+b?4 * X射线的物理基础 * 物质吸收限?K应满足?K? ?K ?K? * 1895年，著名德国物理学家伦琴发现了X射线； 1912年，德国物理学家劳厄等人发现了X射线在晶体中的衍射现象，确证了X射线是一种电磁波。 1912年，英国物理学家Bragg父子利用X射线衍射测定了NaCl晶体的结构，从此开创了X射线晶体结构分析的历史。 * 2. X射线衍射 X射线源 单色 连续谱的X射线 晶体样品 单晶体 多晶体 晶体粉末 多晶体X射线衍射分析 衍射仪法 粉末照相法 单晶体X射线衍射分析 劳厄法 周转晶体法 四圆衍射仪 综合衍射仪法与周转晶体法 * X射线衍射仪是对物质和材料的组成和原子级结构进行研究和鉴定的基本手段。 其最常用的目的如下： 1：确定物质和材料中的各种化合物的各种原子是怎么排列的。研究材料和物质的一些特殊性质与其原子排列的关系。 2：确定物质和材料含有哪些化合物（物相）。 3：确定各种化合物（物相）的百分比。 4：测定纳米材料的晶粒大小。 5：材料中的应力、织构、取向度、结晶度等等。 6：薄膜的