X射线荧光光谱分析法在矿石检测中的应用【开题报告+文献综述+毕业论文】.Doc

X射线荧光光谱分析法在矿石检测中的应用 PAGE 2 PAGE 1 本科毕业设计 开题报告 应用化学 X射线荧光光谱分析法在矿石检测中的应用 一、选题的背景与意义 随着科技的发展主要由滴定法、重量法和比色法等化学分析方法测定矿石成分的传统检测方法,由于操作繁琐，周期较长，耗时长，重现性不好，分析结果受分析人员及各种试剂因素影响大，已经渐渐不能满足矿石检测的需要；而现代仪器分析方法如原子吸收光谱法、原子荧光光谱法、电感耦合等离子体发射光谱法等应用于部分低含量元素的测定,对矿石中微量元素有较高的灵敏度，但样品前处理比较复杂,基体干扰大,对主量组分的测定结果也不能令人满意。 目前得到广泛应用的X射线荧光光谱仪是一种高精度的现代化分析仪器,非常适合于矿石的分析。对于矿石的检测,文献中大多采用压片法和熔融法制样X射线荧光光谱(XRF)分析法有别于传统的化学分析方法。 早在20世纪50年代,X射线荧光光谱(XRF)分析就已经作为常规分析重要手段,经历了50多年的发展,目前已成为物质组成分析的必备方法之一,具有分析速度快、重现性好、准确度高、分析范围广、试样制备简便,测量不损坏试样等优点。所以X射线荧光谱分析法有着巨大的潜力，在未来市场中有良好的发展前景 研究的基本内容与拟解决的主要问题： 通过深入学习X射线荧光分析法在矿石检测中的应用，掌握现代分析仪器的工作原理，使用方法，以此来增强解决实际问题的能力，提高化学分析能力以及灵活应用所学知识于实际操作之中。 X射线荧光光谱分析法在矿石检测中的部分应用举例： Ⅰ. X射线荧光光谱分析法在检测铁矿石组分中的应用: 应用X射线荧光法测定铁矿中的主要成分、次要成分和微量成分,既提高了灵敏度又消除了非均质效应。使用理论α系数和经验系数法校正基体效应,经标准物质检验分析,结果与标准值基本吻合。 Ⅱ. X射线荧光光谱法同时测定钛精矿中主次量组分: 采用铁矿标准样品和高纯二氧化钛混合配制钛精矿的校准样品,X射线荧光光谱法同时测定钛精矿中氧化镁、三氧化二铝、二氧化硅、磷、硫、氧化钙、二氧化钛、五氧化二钒、锰、铁等主次量成分,并对熔剂选择、熔融条件、钒Kα峰位确定及基体效应校正等进行探讨。 Ⅲ. 粉末压片-X射线荧光光谱法测定地质样品中痕量硫的矿物效应佐证实验及其应用: 矿物效应是影响X射线荧光光谱(XRF)分析硅酸盐地质样品中S元素准确度的主要因素之一,采用XRF仪器,运用粉末压片技术制备样品,从压力实验、S的灵敏度实验和质量吸收系数对比实验等方面对S的矿物效应进行了佐证;在此基础上,提出分类校准方案,建立同一类型土壤和水系沉积物系列S的分析方法。 Ⅳ. X射线荧光能谱法测定高岭土标准物质中SiO2含量的不确定度评定: 采用X射线荧光能谱法测定高岭土标准物质中SiO2，应用现代统计学理论对其分析结果不确定度的产生原因进行分析，同时对SiO2含量测定结果的不确定度进行评定，确定分析结果的置信区间。 Ⅴ. 玻璃熔片制样X射线荧光光谱法测定矾土中主次量组分：建立了玻璃熔片-X射线荧光光谱测定进出口矾土中主、次量组分的分析方法,用可变α系数校正元素基体效应,同时进行谱线重叠校正。利用高纯化学试剂配制合成标准参考物质,球磨机混匀,熔融玻璃片法制备系列校准样片,用X射线荧光光谱法对样品中的二氧化硅、三氧化二铁、三氧化二铝、氧化钙、氧化镁、氧化钾、五氧化二磷、二氧化钛进行测定。 Ⅵ. X射线荧光光谱分析法测定多金属矿中的铅锌铜：采用粉末压制的样片进行X射线荧光光谱分析,测定多金属矿选矿流程中的Pb、Zn、Cu。选择康普顿散射线作Pb的内标,分析线附近的散射线作Zn、Cu的内标,用经验系数法校正基体效应。 研究的方法与技术路线： 研究的方法：1.粉末压片法； 2.玻璃熔融片法； 3.直接样品分析法。 技术路线：样品制备 → 标准样品的选择和制备 → 谱线重叠干扰和 基体校正 → 精密度校正试验 → 主成分和微量成分分析 研究的总体安排与进度： 2010年06月—2010年10月： 查阅相关文献、确定研究课题 2010年10月—2010年11月： 书写任务书及学生开题 2010年12月—2011年03月： 学生实验 2011年04月—2011年05月： 学生论文书写 2011年05月—2011年06月： 论文答辩 主要参考文献： [1]　Lee R F, Mcconchie D R. Comprehensive Major and Trace Elements Analysis of Geological Material by X-ray Fluorescence using Low Dilution Fusion [J].X-ray Spectrum, 1982, 11(2): 55~63. [2]