实验三 CMO集成逻辑门的逻辑功能与参数测试.docVIP

实验三 CMOS集成逻辑门的逻辑功能与参数测试 一、实验目的 1．掌握CMOS集成门电路的逻辑功能和器件的使用规则; 2．学会CMOS与非门主要参数的测试方法。 二、预习要求 1．复习CMOS门电路的工作原理; 2．了解四2输入与非门CD4011，四2输入或门CD4071，四2输入与门CD4082及四异或门CD4030等门电路的引脚功能; 3．各种CMOS门电路闲置输入端应如何处理？ 三、 实验原理 1． CMOS为英文Complementary Metal Oxide Semiconductor的简称，译为互补--金属—氧化物—半导体存储器。CMOS集成电路是将N沟道MOS晶体管和P沟道MOS晶体管同时用于一个集成电路中，成为组合二种沟道MOS管性能的更优良的集成电路。 2．CMOS集成电路的主要优点： （1）电源电压范围广，可在+3V~+18V范围内正常运行； （2）功耗低。相比之下，TTL器件的功耗则大得多； （3）输入阻抗高，通常大于1010?，远高于TTL器件； （4）接近理想的传输特性，输出高电平可达电源电压的99.9%以上，低电平可达电源电压的0.1%以下； （5）扇出系数非常大，负载能力强。 3．CMOS与非门的主要参数 CMOS与非门主要参数的定义及测试方法与TTL与非门电路相仿，参见实验二。 四、实验仪器与器件 1. TH-SZ型数字电路实验箱 2. UT56数字万用表 3. 四2输入与非门CD4011、 四异或门CD4030各一片 五、 实验内容和步骤 1. 验证四2输入与非门CD4011和四异或门CD4030的逻辑功能，判断其好坏。（可以取器件中的一个门进行实验）。图3-1分别为两者的引脚排列图： 图3-1? CD4011、CD4030引脚排列图 测试时，选好某一个14P集成块插座，插入被测器件，其输入端（设为A、B）接逻辑开关（开关向上为“1”，向下为“0”），其输出端（设为Y）接LED发光二极管（LED亮则输出高电平“1”，灭为“0”）。按表3.1的真值表逐个测试与非门CD4011和异或门CD4030的逻辑功能。 表3.1 CD4011和CD4030的真值表 CD4011 CD4030 输 入 输 出 输 入 输 出 A B Y A B Y 0 0 0 0 0 1 0 1 1 0 1 0 1 1 1 1 2．CMOS四2输入与非门CD4011的参数测试 方法与TTL电路相同，测试电路可参考实验二。但应当注意： CMOS所有输入端一律不准悬空。与非门闲置输入端直接接电源电压VDD。测试结果填入表3.2中。 （1）测试CD4011的ICCL ，ICCH，IiL 。 * 整个器件的低电平输出电源电流ICCL ：测试时，将CD4011四个门的所有输入端接电源电压VDD，输出端空载，测得电源提供给器件的总电流。求每个门则除以4。 * 整个器件的高电平输出电源电流ICCH ：测试时，最好将CD4011四个门的所有输入端接地，输出端空载时，测得电源提供给器件的总电流。求每个门则除以4。 * 低电平输入电流IiL：四个门的IiL相同，选取其中一个门进行测试。测试时，将被测输入端接地，其余输入端接VDD。 表3.2 CC4011重要参数测试结果 ICCL （mA） ICCH （mA） IiL （mA） PCCL（计算mw） （2）测试CD4011其中一个门的电压传输特性（参照实验二的图2-5，一个输入端接信号输入，另一个输入端必须接逻辑高电平VDD），采用逐点测试法，调节电位器，按表3.3测得，然后绘制电压传输特性曲线。表中的Ui 值仅作参考，测量时根据实际情况灵活变动。 表3.3 CC4011电压传输特性 Ui（V） 0 0.2 0.6 0.8 1.0 1.1 1.2 1.3 1.4 1.5 1.6 1.8 2.0 2.5 3.0 U0（V） 六、实验报告及其要求 1．整理实验结果，对结果进行分析，并用坐标纸画出电压传输特性曲线； 2．写出本次实验心得。 七、实验注意事项 1．CMOS的电源电压允许在+3V~+18V范围内，实验中一般使用+5V~+15V，本实验用+5V。 2．所有输入端一律不准悬空。因为CMOS器件当输入端悬空时，可能为高电平，也可能为低电平，这与输入端的的静电荷情况有关；而且由于输入阻抗非常高，悬空时也会带来干扰，造成逻辑混乱。闲置输入端的处理方法是：与非门是直接接VDD，或非门是直接接Vss（┴）；在工作频率不高的电路中，允许输入端并联使用。 3. 输出端不允许直接与VDD或Vss（┴），否则将导致器件损坏。