高分辨MR结构成像幼儿皮层特征参数与智力发育相关性-放射学实践.PDF

放射学实践 年 月第 卷第 期 ， ， ， ２０１４ ８ ２９ ８ ＲａｄｉｏｌＰｒａｃｔｉｃｅＡｕ ２０１４Ｖｏｌ２９Ｎｏ．８ ８５５ 　 ｇ ·儿科磁共振成像专题 · 高分辨 ＭＲ结构成像幼儿皮层特征参数与智力发育相关性的初 步研究 曲海波，吕粟，肖媛，张文静，宁刚，杨海波 摘要】 目的：应用基于高分辨 结构成像（ ）、表面基础形态测量学（ ）的皮层测量方法，分析幼儿 ＭＲＩ ｓＭＲＩ ＳＢＭ １４８ 　 个脑区的皮层厚度（ ）、皮层表面积（ ）及平均曲率（ ）等参数，探讨皮层厚度等皮层形态学参数与幼儿智力发育水 ＣＴ ＳＡ ＡＶ 平的相关性。方法：对 例健康幼儿受试者进行智力发育水平评分。采用 机对所有纳入对象进行高 １３ Ｓｉｅｍｅｎｓ３．０ＴＭＲ 分辨率的 脑结构图像采集。使用基于 的方法获取每个被试者 个脑区的 、 、 等参数，逐一对每个 ３ＤＴ１ ＳＢＭ １４８ ＣＴＳＡ ＡＶ 脑区皮层参数与幼儿智力发育水平评分进行相关性分析。结果：对受试者大脑半球皮层参数与智力量表评分的相关性分 析中发现， 与智力量表评分存在相关性的脑区集中于语言及社交相关区，即额下回脑沟局部区域，大部分呈负相关，如 ＳＡ 右脑额下回 与量表中适应性评分的相关系数 （ ），与量表中语言评分的相关系数值 ＳＡ 狉＝－０．６４６犘＝０．０１７ 狉＝－０．５７６ （ ）； 与智力量表评分存在相关性的脑区集中于视听、高级整合功能区的颞下回及顶下区，大部分呈负相关， 犘＝０．０３９ ＡＶ 如颞下回 与量表中精细动作评分的相关系数 （ ）；而 与智力量表评分相关的脑区主要为语言 ＡＶ 狉＝－０．７１６犘＝０．００２ ＣＴ 区及与人脸识别相关的侧副横沟前部脑区，呈负相关，如右脑侧副横沟前部 与量表中语言评分的 值为 （ ＣＴ 狉 －０．７６５犘＝ ０．００２）。结论：基于高分辨率 ＭＲＩ并采用ＳＢＭ测量的幼儿皮层参数与基于智力量表的幼儿智力评分间存在相关性的脑 区分布比较广泛，由此可知幼儿大脑结构发育受内在生理因素影响，这与幼儿的智力发育水平、社会适应能力有直接关 系。利用这种方法可以对幼儿脑皮层结构进行评估，并可进一步推测幼儿的基本发育状况。 关键词】 皮层；磁共振成像；结构成像；幼儿；智力 　 中图分类号】 ； 文献标识码】 文章编号】 （ ） Ｒ４４５．２ Ｒ７４８ Ａ １００００３１３２０１４０８０８５５０５ 　 　 ： ／ ＤＯＩ１０．１３６０９ ．ｃｎｋｉ．１００００３１３．