第四章-光电子能谱.pptVIP

四、检测器 检测器通常为单通道电子倍增管和多通道倍增管 光电子或俄歇电子流10-13~10-9A 倍增管 通道电子倍增管是一种采用连续倍增电极表面（管状通道内壁涂一层高阻抗材料的薄膜）静电器件。内壁具有二次发射性能。电子进入器件后在通道内连续倍增，增益可达109 多通道检测器是由多个微型单通道电子倍增管组合在一起而制成的一种大面积检测器，也称位敏检测器（PSD）或多阵列检测器。 五、真空系统 电子能谱仪的真空系统应达到清洁无油、抽速大且能抽除所有气体、真空度高(优于10-7Pa)、无振动和无磁场等 电子能谱仪的真空系统有两个基本功能 使样品室和分析器保持一定的真空度，以便使样品发射出来的电子的平均自由程相对于谱仪的内部尺寸足够大，减少电子在运动过程中同残留气体分子发生碰撞而损失信号强度 降低活性残余气体的分压。因在记录谱图所必需的时间内，残留气体会吸附到样品表面上，甚至有可能和样品发生化学反应，从而影响电子从样品表面上发射并产生外来干扰谱线 298K吸附一层气体分子所需时间 10-4Pa时为1秒；10-7Pa时为1000秒 六、样品处理 气化 冷冻 气体 液体 固体 采用差分抽气的方法把气体引进样品室直接进行测定 块状：直接夹在或粘在样品托上 粉末：可以粘在双面胶上或压入铟箔（或金属网）内，也可以压成片再固定在样品托上 （1）真空加热 （2）氩离子刻蚀 电子能谱仪原则上可以分析固体、气体和液体样品 表面预处理 第三节　应用示例 是宽能量范围扫描的全谱 低结合能端的放大谱 O 和 C 两条谱线的存在， 表明金属铝的表面已被部 分氧化并受有机物的污染 O的KLL俄歇谱线 表面被氧化且被碳污染的金属铝的典型的图谱 C1S峰可用于定标 光电子谱特点 适用范围广，Z?3的元素及各种聚集态（固、液、气）均适用 亚单层灵敏度，探测深度1~20 单层，依赖材料和实验参数 分辨率高，干扰少 除H、He外全谱一次显示，对复杂成分体系能快速、准确定性分析 可结合化学位移，研究同一成分的不同状态 定量分析方便、较准确 分析是非结构破坏的，X 射线束损伤通常微不足道 缺点：横向分辨率较低， 成像分辨率?5?m 利用XPS对Z?3的元素均可检测，结合化学位移可以获得不同化合态，从而成为对土壤、空气悬浮物、水质、工业废气、废渣等研究的有力工具 对空气粉尘、飞灰、烟煤颗粒、土壤等的研究，主要是通过定性元素分析，从化学位移研究S的氧化态、N的化合态、重金属的化合态等 例如，对城市空气粉尘的48h连续监控发现 含有Pb 对NH2基团中的N1S峰监控发现，该峰白天强，且早上主要在小颗粒上、中午在大颗粒上，说明与汽车尾气排放和小颗粒凝聚相关 对S2P谱峰的监控发现，S4+、S6+两者的谱峰相对强度（代表相对含量）与大气氧化作用一致，即首先是SO2被吸附，随后氧化为SO42- 研究结果为大气环境治理提供了依据 一、环境科学研究 例子：胱氨酸氧化产物研究 胱氨酸氧化生成氧化胱氨酸，可能有两种氧化机理和以下相应的两种氧化产物： 应用NMR研究结果认为是第二种机理，产物是II型；而用IR研究认为是第一种机理，产物是I型 XPS可直接给出产物的图谱，若是I型产物，应该只有一个S2P峰；如是II型产物，则应有两个S2P峰 二、同质异构体研究签定 I 型 S R R’ O O S S R R’ O O S II 型 定量分析的关键是获得元素XPS峰的强度Ii，峰强度的测量有以下方法 强度 强度 强度 峰高 动能 动能 动能 背底 峰面积 峰面积 近似，结果精度差 结果精度好 结果精度最好 使用原子灵敏度因子法准确度优于15% 在同一仪器上使用标样测量准确度优于5% 对于任一元素并非所有的XPS峰都有相同的强度（即面积比正比于其原子灵敏度因子）。一般地，选择具有最大原子灵敏度因子的峰 由于原子中任一个内电子都受到核电荷的引力和核外电子的屏蔽场的双重作用，因此，原子核及核外电荷数目与分布均要影响该内电子所处的能级能量，并进而影响其结合能Eb，产生化学位移，这就提供了一种作为研究揭示价态、配位态、结合态以及微化学环境、基团组成与结构的依据 化学位移：一定元素的内电子结合能随原子的化学态(氧化态、晶格位和分子环境等)发生的变化 ESCA是多种研究方法中化学位移最为显著的，而化学位移也是ESCA中应用最多的一个参数 对于同一元素的不同价态的结合能，可以发现，正价愈高，因为核外电子的屏蔽作用削弱，有效核电荷增加，则Eb增大，也即化学位移值增大 三、状态分析 除惰性气体元素与少数位移较小的元素外，大部分元素的单质态、氧化态与还原态之间都有明显的化学位移 如C1s： TiC 281