《实验应力分析》--近代光测.ppt

第四篇 近代光测力学;第一章 全息干涉法;一、全息照像;物体光波被记录下来后，即使物体已经移去，只要“再现” 这个光波，就能看到原物体的图像，它与原物体一模一 样，十分逼真的立体像。如防伪商标。;;3、再现 只用参考光照射冲洗后的干板，可看到在原物体的位置 上有一个和原物体大小、形状完全相同的虚像。 由于所记录的干涉条纹就相当于一个衍射光栅的作用， 透射光波被分成三部分。其中之一精确地复制出原始的 物体光波。;三、数学分析（描述） 在全息照像中，光的现象比较复杂，用复数表示光的 振动，在运算中比较方便，在解释其物理意义时也比 较明确。;——共轭复数;1、记录过程 设投射到全息底片上的物光光波方程为：;由上式可见：全息底片上的记录包含物光和参考光的振幅，且每一点的光强受物光与参考光相位差余弦的调制，在全息底片上形 成了一幅条纹非常密集的全息图。;推导过程简化： 以上推导可见，光强与圆频率ω无关，只与振幅和相位 有关， 所以以后表示光波时，可把包含ω的因子略去。;2、冲洗 设曝光时间为t ，则底片上接受的曝光量为： 底片经显影定影处理后，当光线射到底片上时，一部分 光透射，一部分光吸收，设振幅透射率为T，其定义 为：;3、再现 用参考光再照干板，则透过底片的光波振幅为：;-1级衍射波 —— 通过全息底片后沿原物光的共轭光波 方向传播。;;三、全息干涉法测位移 1、两次曝光法 （1）两次暴光后的相位差;两次等时曝光在全息底片上记录的光强为:;;+1级衍射波 —— 通过全息底片后与原物光的传播方向一 致，是物光的再现，构成物体的虚像 ;两次暴光所得到的虚象光强是相位差的余弦函数;（2）测位移 两次暴光所得到的相位差或光程差的产生是物体位移所致， 故光程差与物体位移之间存在一定的几何关系。 （1）加载前 —— 物光的光程为 （2）加载后 —— 物光的光程为 因试件有了变形，则试件上的一点O有了一个小位移d ， O点移到 点。;光程差：;对于亮条纹;2、实时法;可认为是多次暴光的全息图记录在同一张底片上，把振动物体在暴光时间内所取的每一个位置的物光波都记录下来。 再现时所有这些再现的物光相互干涉成条纹。一般条纹中有一些很亮的亮带——节线（在振动中节线是不动的）。;利用全息光弹性法，采用透射全息照相技术可测出： （1）反映主应力方向的等倾线； （2）反映主应力差的等差线； （3）反映主应力和的等和线； （4）反映绝对光程差的等程线； 由此模型上各点的应力分量就可以通过简单的计算而独立地求得。 由于全息光弹性具有上述特点，近几年来发展很快。;一、实验装置 全息光弹性的实验装置与前面介绍的全息照相实验装 置基本相同，只是增加一些光学元件，其光路布置如 图所示。;二、两次暴光法 1、平面偏振光场光强基本方程 在平面偏振光场中，参考光和物光都是平面偏振光，两束光的振 动平面互相平行，设通过未受力模型的物光和参考光分别为：;设： 分别为原始物光在第一和第二主应力方向上产生的相位变 化，则通过模型后的物光为：;到达全息底片的光强为： ;设第二次暴光时间为t2，第二次暴光量为： ;;为再现物光波，其光强为：;根据三角函数关系 ：;（3）若 时，即只在加载后一次暴光，则光强变为:;2、圆偏振光场光强基本方程;;（2）模型加载后第二次暴光 经过受力模型的物光是两束平面偏振光，并具有不同的相位变化， 相位变化是由四分之一波片和受力模型引起，设φ1和φ2分别为 受力模型在第一和第二主应力方向上引起的相位变化，则物光可 表示为：;（4）当用参考光 照射全息底片再现时，透射的光波为：;略去比例常数，即 ，则：;两次暴光法可以得到等差线条纹和等和线条纹。 等差线条纹和等和线条纹同时出现，相互影响，而且等差线条纹较稀，等和线条纹较密，不便于测量。为了解决实际问题，必须将此两组条纹分开，目前已有不少分离条纹的方法，但这里主要介绍双模型法。 ;3、双模型法;（1）等和线 有机玻璃模型 正交圆偏振场 加载前后两次暴光;（b）条纹的正负 等和线条纹级数是有正负之分的，条纹的正负可根据模型受 力状态来分析推断，模型厚度变厚区为负的条纹