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ICS 19.040
K 04 绷黔
中 华 人 民 共 和 国 国 家 标 准
GB/T2423.27-2005八EC60068-2-39:1976
代替GB/T 2423.27- 1981
电工电子产品环境试验
第2部分:试验方法 试验Z/AMD
低温/低气压/湿热连续综合试验
Environmentaltestingforelectricandelectronicproducts-
Part2:Testsmethods-TestZ/AMD:Combinedsequentialcold,
lowairpressureanddampheattest
(IEC60068-2-39:1976,Basicenvironmentaltestingprocedures-
Part2:Tests-TestZ/AMD:Combinedsequentialcold，
lowairpressureanddampheattest,IDT)
2005-08-26发布 2006-04-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中 国 国家 标 准 化 管 理 委 员会 发 布
重庆四达试验设备有限公司
GB/T 2423.27-2005/IEC60068-2-39:1976
目 次
前 言
目 的
试验的一般说明，。。。。····，··，·························································，·，·。。，····，，，············……1
试验设备的说明 ···，·，。。。。。·。。·，，·，，，，，，················································、·。········，，，·········……1
试验程序 ··························，··，·······，··············································‘，。·。···，，，，··… … 1
预处理 ·······，，，····I
初始检测 ···············，·，，甲，，，··················，··，，···，一 1
条件试验 ··········································，·。··，，····，，，································。···············…… 2
恢复 ···························，，·······················，···，·······························。 ········。·。。·····，，，，二2
最后检测 ·····································。·······，，，，·，，·················································。，·。·，2
相关规范应作出的信息··························，·····，····，·，，，·····，·，············，·····················…·…2
GB/T2423.27-2006八EC60068-2-39:1976
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