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pcba失效分层起泡原因分析解析资料

PCBA 失效分层起泡原因分析 —— 样品描述 客户名称:FJP 终端客户:CITIZEN 客户型号:PS66901-F04 不良描述:基板分层爆板 分析过程 外观检查 目测观察,样品表面起泡拱起现象较为严重,并呈现大面积的发白区,即基板起泡、分层。 切片分析 爆板可能性原因分析 杂质 水份 气泡 爆板可能性原因排除 杂质 × 水份 气泡 供应商分析结果 板材供应商(生益),根据Tg值测试,含水率分析,切片分析,认为此次爆板的主要原因是PCB吸潮所导致。 吸潮模拟实验分析 样品选择 实验过程 实验结果 样品选择 为实验结果更准确,在样品的选择上,对于样品板我们选用与问题板10850E04A1表面处理、层数,压合厚度、布线密度类似的报废板进行实验,所选实验板详细信息见下: 样品分组 样品前期处理 对于两个样品组,我们将采用六种不同的方法进行前期处理,其目的是为模拟产品回流焊前的各种状态,来验证不同状态的PCB经回流焊后爆板的情况。 方法1:150℃,烘烤4h,去除PCB内吸收的水份; 方法2:客户端接收状态,即样品板不经过任何处理; 方法3:常温下,水中浸泡1h; 方法4:常温下,水中浸泡2h; 方法5:常温下,水中浸泡3h; 方法6:常温下,水中浸泡4h。 方法3~方法6是采用浸泡的方式,来模拟PCB因存储不当吸湿的状态。 回流焊实验 实验条件:290℃ 4次 爆板位置记录: 实验结论 样品均出现了爆板,加烤后的板在回流焊三次后出现爆板,而接收态的板在经过第二次回流时就出现严重的爆板现象,查该板当时出货报告可靠性实验,上锡实验是没有问题的,说明此板经长时间储存后,对该板的耐热冲击性能有很大的影响,从加烤后有所改善的情况来看,PCB在存放过程中吸湿是影响此板热冲击性能的主要原因; 样品出现爆板的位置绝大部分在图形内,占样品比例的92%; 在回流焊实验中,浸泡2h、3h有阻焊层的样品在回流焊一次时全部出现严重的爆板分层现象,而无阻焊的样品大部分是在经过二次回流时出现的爆板,由此我们可以推断阻焊层并不能阻挡水份进入PCB; 通过上述实验结果,我们认为PCB在长期存放过程中,会出现吸湿现象,且吸湿位置不仅是发生在板边缘处,覆盖有阻焊的图形区域也同样会有吸湿现象,所以爆板出现在图形区域并不能说明爆板不是吸湿所致。 实验结果分析 浸泡后的样品比接收态和加烤后的样品先出现爆板; 所有实验板经Reflow 4次后均出现了爆板; 起泡位置多集中在中间位置而不是板边缘; 两组样品Reflow 情况无明显区别,阻焊对阻止吸湿的作用不明显。 浸泡后的样品比接收态和加烤后的先出现爆板 浸泡在水中的板,由于水的极性,水分子会沿着玻璃纤维和基体界面进行扩散,而样品是浸泡在水中,在此种环境中,水分子会通过界面缝隙较快的渗进基材中。这样经浸泡处理后的PCB含水量远高于加烤或自然接收态的样品,在经回流焊高温作用时,极易引起分层。 所有样品经Reflow 4次后均出现了爆板 所选样品为在我司成品仓存放了8个月库存品,在存储过程中也存在吸潮的可能,因此自然接收态的样品在reflow 2次时就出现了分层现象,样品经加烤后,比接收态样品略有改善,但还是在reflow 4次后全部起泡,对此现象,经同生益探讨和查询相关文献、资料后对此现象的发生,将从短暂吸湿和长时间吸湿的特点来进行解释。 短暂吸湿、长时间吸湿 PCB基板存储时,由于基板所用的玻璃纤维、填充树脂均为极性,环境中的水分子极易通过界面缝隙渗进基材,与基材发生物理和化学反应。 首先,水使树脂基材发生溶涨,即水分子与基材中的高分子链形成物理吸附,此种吸附经加烤将迅速解除,吸湿在此阶段是可以消除的,对材料本身的化学成分以及化学结构是没有影响的,短暂吸湿即为此类; 随着时间的延长PCB内的水分子将和基材中的玻璃纤维等填充材料发生化学反应,例如:水分子与玻璃纤维的二氧化硅作用,形成氢氧化物,导致纤维强度下降,此阶段,加烤对改善物、化性已发生变化的PCB作用已不明显; 因此,样品是经过8个月时间存储的,部分进入PCB的水分子已破坏了化学成分及结构,加烤对改善此种长时间吸潮已无显著效果。 起泡位置多集中在中间位置而不是板边缘 水分子进入基材后,经渗透、扩散将逐渐进入基材内部。水分子的极性关系,进入基材的水分子将形成一个极性界面层,使得水分子更易沿着玻璃纤维向基板内横向扩散,在回流焊时则多出现为图形区内,而不是板边缘。另水分子不易突破此极性界面沿基材纵向进行扩散,表现为吸潮爆板多出现在PP层间而不是COA材间。 PS-基板出货后客户端存储时间 客户问题解答 CITIZEN、JCM、 MEIKO均为大企业,不仅是采购使用SUN

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