了解色散和分辨率.PDFVIP

SPD/IN149-01-A May 2011 光谱产品部信息说明 了解色散和分辨率 色散和分辨率 应用于配备阵列探测器的光谱仪 当描述光栅色散型光谱仪时，色散和分辨率有时被认为是同 如果两条很窄的线在探测器上所成的像是能够分开的，它们 一概念而被互换使用。这是不正确的，并且会使人误解，它 就能被分辨。对于阵列探测器，色散需足够大，使得两条线 们是两个完全不同的参数。 相隔探测器的几个像元而分开。超过这个而增加色散则会损 害性能，因为同一个信号扩展到更多像元上，会降低信噪比。 注：通过增加光谱仪的焦距来提高色散不仅会增加拉曼谱带 线性色散 中心之间的距离，而且也增加谱带的宽度，这时并不一定能 提高分辨率。因此，当它们所成的像扩展至数个探测器像元 线性色散被定义为波长变化（或拉曼位移）与沿光谱空间色 上仍不能被分辨，说明只是提高色散，永远不能分辨它们。 散方向上的距离的比率，通常单位为 -纳米/毫米（nm/mm） -1 或-波数/毫米（cm /mm ）。增加色散，增加了谱线之间间 实际分辨率 隔 仪器的实际分辨率通常比前面描述的分辨本领要差。有两个 主要的影响：第一是入射狭缝的宽度；第二是系统的光学像 这个可以表示为，线性色散与焦距和光栅刻线密度的倒数成 差。 正比： dl 1 第一个因素通常容易控制，入射狭缝可以根据需要开小。第 dx nL 二个因素往往是实现高分辨率的最重要的因素。 n = 光栅刻线密度 对于使用同轴光学系统的光谱仪，比如inVia 系列- 像差非 L = 光谱仪焦距 常低。同时，利用折射透镜聚焦的系统 （如inVia）也提供 了极大的灵活性，以减少像差。这就接近了衍射极限下的光 分辨本领 学性能，即分辨本领方程给出真实分辨率的准确预测。 对于离轴的反射系统 - 采用反射镜的系统- 像差较少被校正， 仪器的分辨率是是指仪器能够分辨两条相邻谱线的能力。 导致比同轴折射系统性能差。 R 表示光谱仪的分辨本领，定义为 这些像差会模糊拉曼带的效应，使得分辨率降低。对于反射 l R = 镜光谱仪，长焦距有益于像差降低（对于给定直径的光束）。 dl 一般情况下，要得到相同的分辨率，基于反射镜的光谱仪比 λ= 中心波长 透镜光谱仪系统的焦距要长。 dλ= 两可分辨光谱谱线之间的波长差 R 也可以写作： R = nW W ：光栅的闪耀宽度 请注意：以上分辨本领的方程与光谱仪焦距无关。 Renishaw plc T +44 1453 524524