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失效物理技术失效物理技术 在产品设计中的应用 李少平李少平 工业和信息化部电子第五研究所业和信息化部电子第五研究所 元器件可靠性研究分析中心 2017 电路设计缺陷电路设计缺陷 电路设计缺陷电路设计缺陷 能 小 量 量 压 电 击 击 穿 电路设计缺陷电路设计缺陷 原 新 DEG系统485通 旧版旧版DELDEL系统系统 讯电路讯电路 485通讯电路 新版DEL系统 485通讯电路 细节的的问题 DEGDEG系统系统 通讯线上干扰（V1 ） 对485作用的等效电路 对 讯 通 版 新 线 线 DD 48 扰 5干 上 E 旧版DEL系统 用 作 的 的 统 系 L （ 通讯线通讯线上干扰干扰 （V 1） 对485作用的等效电路 电 效 等 V 1 ） 路 路 细节的的问题 对MOV直接放电 放电电压放电电压＝50V50V Vz=10V MOV上的电压 峰峰＝31.4V 最大＝19.0V 结论：