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- 2019-06-05 发布于湖北
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有机半导体薄膜生长原位实时测量方法的研究
徐佳佳 胡春光 陈雪娇 张雷 傅星 胡小唐
Studyonin-situreal-timemeasurementforthinfilmgrowth of organic semiconductors
XuJia-Jia HuChun-Guang ChenXue-Jiao ZhangLei Fu Xing Hu Xiao-Tang
引用信息Citation: ActaPhysicaSinica, ,230701(2015) DOI: 10.7498/aps.64.230701
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有机半导体薄膜生长原位实时测量方法的研究
徐佳佳 胡春光 陈雪娇 张雷 傅星 胡小唐
1) (天津大学精密测试技术及仪器国家重点实验室, 天津 300072)
2)(天津大学精密仪器与光电子工程学院, 天津 300072)
3)(山东大学控制科学与工程学院, 济南 250061)
( 2015 年6 月5 日收到; 2015 年8 月14 日收到修改稿)
针对原位实时监测有机半导体薄膜生长情况的需求, 提出了差分反射光谱法与场效应晶体管法结合的光
电联合测量方法, 设计研制了测量系统. 以并五苯有机分子为例, 通过自制底栅底接触式场效应管微结构, 实
验测试了热蒸发法生长导电膜层过程中光电信号的演变与相互关联. 光谱信号显示, 并五苯以薄膜态结构进
行生长, 光谱随生长进程变化显著. 实验数据与四相结构模型仿真结果的良好吻合, 表明因薄膜增厚引起干
涉条件的改变是光谱变化的主因, 由此推算出薄膜生长速率为0.23 nm/min. 当薄膜等效厚度达到28 nm 时,
场效应管的导电性显著增强, 标志着并五苯有效传输层的形成. 此后, 薄膜厚度持续增加, 但测试电流增长缓
慢, 说明该结构进入电学特性饱和区. 光电联合法不仅有助于研究有机半导体薄膜的光谱信息、电学特性和
薄膜结构之间的相互对应关系, 也为发展原位监测有机半导体薄膜制备过程, 探索最佳工艺提供了新的研究
手段.
关键词: 有机半导体薄膜, 光电特性, 原位测量, 并五苯
PACS: 07.60.Hv, 81.05.Fb, 78.40.Me, 72.80.Le DOI: 10.7498/aps.64.230701
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