光的干涉在天体测量中的应用.PDFVIP

光的干涉在天体测量中 的应用 07物理基地班 王夕露 200731020028 天体测量学是天文学发展的基础，天文学的孕育和发 展也是首先从天体测量开始的。 用天体测量方法所测量的天体的距离、位 置、运动、大小和质量等表征天体较全面 的特性参数为整个天文学的研究提供了最 基本、最直接的资料，而且天体测量测定 这些量的精度越高，天文学家对天体和宇 宙的认识就越深入。 光干涉测量是将相隔一定距离的望远镜或定天镜 来的星光、经过恒星跟踪器、光学延迟线等光学 传输系统之后，在光束分光器处迭加而形成干涉 。由光电倍增管或其它检测器检测，可以得到包 含有关待测天体天文信息的观测量：条纹可见度 和条纹相位。由检测到的条纹可见度可得恒星的 角直径和双星角距以及密近双星的轨道根数等天 体物理量。 两 两 两 两 种 种 种 种 （一）甚长基线干涉测量（VLBI 基 基 基 基 ） 本 本 本 本 “甚长基线干涉测量”一词为 的 的 的 的 Very Long Baseline 光 光 光 光 Interferome-try，简称VLBI。 简单来说，就是把几个小望远镜 干 干 干 干 联合起来，提高分辨率达到一架 涉 涉 涉 涉 大望远镜的观测效果。它的主要 测 测 测 测 特点是:采用原子钟控制的高稳 量 量 量 量 定度的独立本振系统和磁带记录 方 方 方 方 装置;由两个或两个以上的天线 分别在同一时刻接收同一射电源 法 法 法 法 的信号，各自记录在磁带上；然 后把磁带上的信号一起送到处理 机中，进行相关运算，求出观测 值。 VLBI的测量值 :干涉条纹的相关度;射电源同 一时刻射的电磁到达基线两的时延迟 简称时延；时延迟率简称时延 率。相关度提有关射电源度分的信 息，时延和时延率提有关基线长度和 和射电源位置经和的信息。得的射 电源的度分，分辨率达到分之几角， 测量基线量的度达到几， 测量射电源的位置的度达到分之几角。 分辨率和测量度上，其测量相， 成数量的提高。 （ 二 ） 恒 星 光 干 恒星光干涉以其高分辨率的 涉 在到天文学的 应 ，在测定恒星直径等进行 用 为成的。 于 天 体 测 量 甚长基线射电干涉 VLB I用天体测量 的原理一，恒星光干涉是测定一恒星光的 同一到达两架望远镜或两个定天镜的， 在接收的两束光线之用延迟线的光 ，形成干涉条纹时，测定出的光 值，就是要的;在观测时，延迟线 跟踪，以涉条纹的在，用一跟踪的 度就可以算出的率。在两架望远镜 或两个定天镜成的基线及长度稳定的 条，过一恒星的观测，由测定 的，或用的率，就算出 要的恒星位置和测的地理位置。 用天体测量的光干涉用天体测量的光干