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产品用途：（写明用于具体的实验室和科研项目，如果买的超过一套，请告知原因及放置地点，如：学生使用量或设备消耗大等 放置在XX楼XX实验室） DEKTAK XT探针式轮廓仪主要应用于薄膜厚度测量、物体表面形貌测量、应力测量和平整度等精密测量。 工作原理：DEKTAK XT台阶测量仪是样品和探针做相对运动，探针触摸样品表面的凹凸不平，并将这种竖直方向上的台阶高度转变为可以识别的信号输出的仪器。实验结果经计算机数据处理后输出，可以精确的表征材料表面的特性，进行粗糙度，膜厚，台阶高度等的测量。 物理组成：DEKTAK XT主要包括主机，控制主机及附件，样品台和探针等附件。其中控制主机包括仪器控制软件、数据通讯附件、视频捕捉附件和数据处理工具等。 检测对象：DEKTAK XT测量方式因为是物理的运动方式，对材料没有要求，无论是有机材料或者无机材料，磁性材料，金属材料等等都可以测试。 技术参数： 1. 设备核心传感器：电感传感器,采用LVDT传感器原理； 2. 垂直测量范围：可达1 mm； 3. 扫描长度：55mm，自动台可达200mm，可达120,000个数据点/扫描； 4. 垂直分辨率为1 ?； 5. 测试高度方向的重复性≤4 ? (1微米的标准台阶,重复测量30次)； 6. 样品台150 mm×150 mm行程，360°自动旋转； 7. 样品厚度最高可达50 mm； 8. 1微米标准校准模块，含校正证书； 9. 64位操作系统，配置台阶仪专用软件，有用户定制界面功能； 10. 包含单独快速换探针装置，磁吸附更换方式精确定位； 11. 光学系统真彩色CCD 数字变焦，LED光源； 12. 探针压力：1至15mg； 13. 能进行3D轮廓扫描； 14. 良好的售后服务，成都地区有办事处，能够对用户遇到的问题作出迅速响应。 产品图片： 功能特点：DEKTAK XT 台阶测量仪是样品和探针做相对运动，探针触摸样品表面的凹凸不平，并将这种竖直方向上的台阶高度转变为可以识别的信号输出的仪器，因为是物理的运动方式，对材料没有要求，无论是有机材料或者无机材料，磁性材料，金属材料等等都可以测试。实验结果经计算机数据处理后输出，可以精确的表征材料表面的特性，进行粗糙度，膜厚，台阶高度等的测量。  技术参数： 1. 设备核心传感器：电感传感器,采用LVDT传感器原理； 2. 垂直测量范围：可达1 mm； 3. 扫描长度：55mm，自动台可达200mm，可达120,000个数据点/扫描； 4. 垂直分辨率为1 ?； 5. 测试高度方向的重复性≤4 ? (1微米的标准台阶,重复测量30次)； 6. 样品台150 mm×150 mm行程，360°自动旋转； 7. 样品厚度最高可达50 mm； 8. 1微米标准校准模块，含校正证书； 9. 64位操作系统，配置台阶仪专用软件，有用户定制界面功能； 10. 包含单独快速换探针装置，磁吸附更换方式精确定位； 11. 光学系统真彩色CCD 数字变焦，LED光源； 12. 探针压力：1至15mg； 13. 能进行3D轮廓扫描； 14. 良好的售后服务，成都地区有办事处，能够对用户遇到的问题作出迅速响应。