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实验2门电路特性参数测试 实验二门电路特性、参数测试 说明：实验内容中，红色标注的部分为基本内容，必须完成。其他内 容按照实验 老师的要求做。 一、实验目的 了解数字集成电路外形结构及外部引脚的排列规律。2.掌握逻辑 门电路主要特性、参数的测试方法。3.学习查阅器件手册。 4.进一步训练实验箱及常用仪器的使用方法。二、实验资料 TTL 与非门 74LS00 74LS00为四个2输入TTL与非门，为双列直插14脚塑料封装，外部 引脚排列如图2.1所示。它共有4个独立的两输入端“与非”门，各个门 的构造和逻辑功能相同，其内部电路结构如图2.2所示。 CC A B Y 图2.1 74LS00引脚排列 图2.2 74LS00 与非门内部电路结构 74LS00特性参数见表2?1、表2?2、表2?3。 表2-1推荐工作条件 *负号表示电流由器件流岀 表2?2直流特性（0?70°C） 2?COMS与非门74HC00 74HC00为四2输入COMS与非门，外部引脚排列与74LS00相同（图 2.1）o它共有4个独立的两输入端“与非”门，各个门的构造和逻辑功能 相同，其内部电路结构如图2.3所示。 74HC00特性参数见表2?4、表2?5、表2?6。 表2-4推荐工作条件 *负号表示电流由器件流岀 表2?5直流特性（一40?85°C,除非另有说明） *负号表示电流由器件流出，和典型值在T=25°C条件下测得□方框 内的数字是线性外推值 表2-6开关特性 *典型值在T=25°C条件下测得 ** CPD为空载功率消耗电容，决定空载动态功耗和空载电流功耗 三、实验设备与器件 设备：数字电子技术实验箱、万用表、电流表、示波器 器件： 74LS00（74HC00） 一片（四个2输入与非门）四、实验内容及步骤 （一）TTL与非门测试 1.验证TTL与非门逻辑功能 （1）任意选择其中一个与非门进行实验。将与非门的两个输入端分别接 到两个电平开关上，输出端接到一个电平指示灯发光二极管上（电平指示 灯接高电平时点亮)，接通电源，操作电平开关，完成真值表——表2.7。 判断功能是否正确，写出逻辑表达式。 表2.7与非门真值表 电压传输特性测试 按图2.4连好线路。调节电位器，使VI在0~3VZ间变化，记录相应 的输入电压VI和输入电压V0的值并填入表2.并在图2.5的坐标系中画 出电压传输特性。 V0 4.7k VI 图2.4电压传输特性测试电路 图2.5电压传输特 性 表2.8与非门输入、输岀电平关系数据表 3 ?直流参数的测试 输岀高电平VOH的测试 测试电路如图2.6所示。闭合开关，调节电位器使电流表读数为400 UA,用万用表测量输出端带负载时的输出电压VOH；断开开关，用万用 表测量输出端负载开路时的输岀电压W OH,将数据填入表2.9 VOL 图 2.6V 0H的测试电路图2.7VOL 0H的测试电路 电路 输出低电平VOL的测试 测试电路如图2.7。闭合开关，调节电位器使电流表读数为8mA,用 万用表测量输出端带负载时的输岀电压VOL；断开开关，用万用表测量输 岀端负载开路时的输出电压V’ 0L,将数据填入表2.9中。 表2.9 VOH、VOL测试结果 高电平输入电流I IH 测试电路如图2.8所示。连接电路，通电后读出电流表的读数即为负 载门高电平输入电流HH,并用万用表测量此时负载门输入高电平的电压 VIH,将数据填入表2.10中。 图2.8 IIH测试电路 图2.9 IIL测试 电路 低电平输入电流IIL 测试电路如图2.9所示。连接电路，通电后读岀电流表的读数即为负 载门低电平输入电流HL,并用万用表测量此时负载门输入低电平的电压 VIL,将数据填入表2.10中。 表 2.10 IH、IL测试结果4.输入端负载特性测试(探)测试电路如图2.10 所示。用万用表测试，将VI和V0随RI变化的值填入表2.11中。(注意: 每次测量电阻RI的值时，须将RW中间活动头和门的输入端断开)。 表2?口 输入负载特性测试结果 RW 10k 图2.10输入端负载特性测试电路 5?“封锁”门电路实验 （1） 将与非门的一个输入端接到电平开关上，另一个输入端接到连续 脉冲信号源上。信号源频率调至约2kHZo 电平开关置“1”，用双踪示波器（输入耦合方式置于“DC”档位）， 同时观察门的输入VI和输出VO波形； 电平开关置“0”，再次观察输入VI和输出VO波形。画出两种情况下 输入VI和输出VO波形。 （2） 用3个两输入端与非门接成一个两输入端的或门，做或门封锁实 验。实验方法口拟。五、实验报告 实验预习 （1） 熟悉TTL与非门电路（74LS00）各参数的测量原理、测量方法 及测量步骤； （2） 完成实验的预习报告，包括：实验目的、实验设备、布置实验 内容及