数学建模论文--硬盘振动几何光学测量模型.docVIP

PAGE PAGE 2 硬盘振动几何光学测量模型 摘 要 本文借助光学测量方法测量硬盘振动情况，以光学镜面反射及几何光学原理为解决问题的主要依据，建立了硬盘振动光学反射测量模型；通过镜面反射间接检测硬盘的振动，并依据反射情况结合平面几何知识分析其振动情况；解释了采用两束光线测量技术的原因，分析了测量原理，并通过测量求得了振动方程系数a、b、c，以此确定了盘片局部的表面方程．最后通过计算机模拟取值方法求得不同精度下对平面方程的影响，并通过Matlab求解得在的精度下对平面方程影响最小． 关键词：振动测量;几何光学原理;平面方程;测量精度 1 问题的提出 硬盘是计算机上的重要部件，正向着更小、更快、密度更高的方向发展。如何减小盘片的振动，成为关键问题，于是怎样检测盘片的振动更加重要。由于硬盘转速很高，不适宜接触式测量，容易想到光学测量。 有一种新技术测量物体表面获得振动情况，是利用类似镜面反射的几何光学原理工作的：选用同一点光源发出两束光线，照射有反射能力的被测物体平面，产生的两条反射光线再照射到水平放置的接受屏上。接受屏能够检测出光线照射点在接受屏平面上的坐标位置，问题是怎样利用图2中O’x’y’平面的两个坐标值反算出被测物体当前的平面方程，就可利用平面方程的变化得到振动情况。 图1是用两条光线检测的原理图，点光源O为坐标原点，E1和E2是盘片瞬间位置的反射点，此时盘片局部表面方程为z=ax+by+(c+D)，其中a,b,c为未知量，由于硬盘在振动，平面就偏离了初始位置z=D(D0)；接受屏方程为z=h，其中h0为接受屏的高度，B1和B2是其上的照射点，这样利用它们确定、和获得盘片局部表面方程。 被测物体平面 被测物体平面 接收屏 图1 原理图 点光源 E1 E2 B2 B1 z x y O O’ B1 图2 接受屏示意图 B2 x , y , 问题 1：请解释这种测量技术采用两束光线的原因。 问题 2：请建数学模型分析盘片局部表面方程的测量原理。 问题 3：试分析接受屏分辨率（测量精度）对盘片局部表面方程的影响。 2 模型的准备 2.1 模型的分析 从实际出发,选取市面流行的计算机硬盘(3.5英寸台式机)进行振动测量, 由于硬盘盘片是固定在电机主轴上高速转动，无论怎样振动硬盘盘片都受到主轴约束，使得硬盘中心点位置坐标永远固定不变,如图a所示． a.硬盘的平面图 2.2 模型的假设 根据上述分析，有如下合理假设： 盘面围绕旋转中心C（0,0,D）振动； 两条入射光线的方向向量为已知且固定，； 光线在盘片发全反射,没有散射现象． 2.3 符号约定 ,：入射光线方向向量； 3 模型的建立与求解 3.1 问题一的求解 (1) 从上面可以看到,从同一点光源可以发射出若干条入射光线，每一条入射光线都可以和反射光线构成一个平面，并且每一个平面都垂直于反射面，且经过共同的点光源O，但有且仅有一条垂直于反射面的交线，因此由这两个平面就可以反射面的法向量． (2) 由于硬盘盘片时刻在振动，不同时刻有不同方程，因此如果只用一束光线，显然无法求解，而用三束线则无论成本及计算方面都比较大，不宜采用，因此采用两条入射光线是最佳的测量方案． 3.2 问题二的求解 首先，不加证明地引入如下几何定理： 引理1：平面A与平面B均垂直于平面C,假设AB相交于直线L,则L必垂直于C． 引理2：入射光线和反射光线构成的平面一定垂直于反射表面． 由引理2知，平面OE1B1和OE2B2都垂直于反射面，即被测物体平面，如图b所示． 图b 入射光线与反射光线构成平面垂直反射面示意图 由于两条入射光线均过原点，且方向向量已知．可求得直线和的方程分别为： ： （1） ： （2） 接收屏上B1和B2点在xyz-O坐标系里的坐标分别是B1（,h），B2（,h），则直线OB1和OB2的方程分别是： ： （3） ： （4） 根据量的性质，知道两向量叉乘得到的向量就是由这两条直线所构成平面的法向量，因此由直线和直线构成平面的法向向量为： 　 于是，运用点法式便可以求出平面OE1B1的方程： （5） 同理，平面OE2B2的法向向量为： 平面OE2B2的方程为： （6） 平面OE1B1和