扫描近场光学显微镜.pptVIP

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玉龙参考文献: 扫描近场光学显微镜原理及其应用 (激光与光电子学进展.97年二月刊) 技术特点: 扫描近场光学显微镜根据非辐射场的探测原理,将微小光探针置于隐失场中,以扫描方式获得局域光的散射、折射、衍射、吸收、偏振、荧光等信息。这样采集的光学图像分辨率与常规光学显微镜不同,不受衍射极限的半波长限制,可以达到波长的几十分之一。 原理: 近场探测原理是SNOM的核心。当一个亚波长孔径的微小光源,在一物体的近场范围内照射物体时,照射光斑的面积只和孔径大小有关,而与波长无关。这样在反射光或投射光中,将携带体亚波长尺寸结构的信息,通过扫描采集样品各“点”的信息光,即可得到分辨率小于半波长的样品的近场图像 典型结构: Tip-Sample间距的控制 不同的SNOM模式 获取信息: 微小光探针可以是纳米光源或者纳米天线,用于局域照射或光信号的转换。这些光信号送人光电倍增管可用于显微成像,送人光谱仪中则可以得到近场光谱,即纳米尺度空间分辨的光谱。利用近场成像中的新的衬度原理还可提供局域化学与相分析信息。 应用举例: 1、单分子观测:Bet.zig小组观察到室温下固化在PMMA有机膜中的哑铃形碳花青染料分子及其取向 (荧光与构型图) 2、生物结构的 荧光观测 3、量子结构的荧光 光谱诊断 4、碳光介质光存储 5、微加工和光子印刷术 6、半导体及光电介质中的缺陷结构与折射率分布

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