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X光系列实验报告 本次共做了调校测角器的零点，测定LiF晶体的晶面间距，测定X光在铝中的衰减系数，并验证朗伯定律和普朗场常数h的测定。通过做一系列的实验，从而对X射线的产生、特点、原理和使用有较深刻的认识，提高自己的实验能力并提高独立从事研究工作的能力。本次分别写了X光在铝中的衰减系数，并验证朗伯定律和普朗克常数h的测定的实验报告。 ???? 实验一、测定X光在铝中的衰减系数，并验证朗伯定律? 一、实验的目的和意义 ?通过本实验了解X射线的基础知识，学习X射线仪的一般操作；掌握X射线的衰减和吸收体材料和厚度的关系，训练实验技能和实验素养。 二、实验原理和设计思想 ?????X射线穿过物质之后，强度会衰减，这是因为X射线同物质相互作用时经历各种复杂的物理、化学过程，从而引起各种效应转化了入射线的部分能量。X射线穿过物质时要减弱，减弱的大小取决于材料的厚度和密度。在同一介质里不同波长的射线减弱的程度不同。 满足： 本实验研究X射线衰减于吸收体材料和厚度的关系。 假设入射线的强度为R0，通过厚度dx的吸收体后??，由于在吸收体内受到“毁灭性”的相互作用，强度必然会减少，减少量dR显然正比于吸收体的厚度dx，也正比于束流的强度R，若定义μ为X射线通过单位厚度时被吸收的比率，则有? ???????????? -dR=μRdx??????????????????????????????考虑边界条件并进行积分，则得：? ??????????? ?R=R0e^(-μx）????????????????????????透射率T=R/R0,则得：? ???????????? T=e^(-μx)或lnT=-μx??????????????式中μ称为线衰减系数，x为试样厚度。 我们知道，衰减至少应被视为物质对入射线的散射和吸收的结果，系数μ应该是这两部分作用之和。但由于因散射而引起的衰减远小于因吸收而引起的衰减，故通常直接称μ为线吸收系数，而忽略散射的部分。 三、实验内容和步骤? ?设置高压U=35KV,?设置电流I=0.02mA,设置步长Δβ=0.1o?设置Δt=3s,下限角为6o?，上限角为70o 。将铝板底板端部插入原来靶台的支架，置传感器于0位，按下TARGET键，然后再按SCAN。 四、数据处理和讨论 由于 改写为 所以只需验证和d成线性关系即可，由于本实验未测出是多少，所以先去除，验证和d成线性关系。 758.787 449.41 271.7855 168.304 117.7 70.3 -6.6317 -6.1079 -5.6050 -5.1258 -4.7681 -4.2528 d（mm） 0.5 1 1.5 2 2.5 3 由excel拟合可得近似为一条直线，所以X射线满足朗伯定律。 下求X光在铝中的衰减系数μ 由 得 分别带入上述数据可得 1.04, 1.006，0.958，0.715, 1.03 i=1,2,3,4,5 μ= (1.04+1.006+0.958+0.715+ 1.03)/5=0.9478 七．实验结论以及误差分析。? 在衰减箔厚度对X射线衰减的影响的实验中，测得y=0.9367x-7.0545,符合朗伯定律，在误差允许的范围内，可以得到μ=0.9478. 误差分析：误差可能来源于仪器的精度，实验器材的磨损和腐蚀，外界光的干扰等。 实验建议：提高仪器精度和实验技术水平，采用更加完好的实验器材阻止外界光的干扰等。 实验二 普朗克常数的测定 实验目的 测定普朗克常数的大小，了解其原理，加深对X射线的认识，在实验中提高自己的实验能力，动手能力。 二、实验原理 X光管发射的连续谱都有一个特征的短波限波长，其大小和x光管的加速电压有关。由实验家发现的短波限波长和加速电压之间存在有反比例关系。因为短波限波长对应的是最大能量，而x光光子能获得的最大能量是入射电子的全部动能，所以我们可以得出短波限波长等于hc/eu,其中U为x光管得加速电压，由此我们可以求得普朗克常数。 三、实验内容和步骤? ?设置高压U=35KV,?设置电流I=0.1mA,设置步长Δβ=0.1o?,设置Δt=3s,下限角为6o?，上限角为10o 。按下COUPLED键，然后按下SCAN键，记录数据，然后分别记录管压等于34KV、33KV……26KV的测量系列。 四、实验方法和结果 借助NaCl晶体测量不同U下附近的衍射谱，利用实验软件提供的功能，对各条谱线附近区域进行直线拟合，从而得到不同的U对应的。 实验中使用该方法在不同电压下进行多次测量，得到=A/U-B，并由A=hc/e，求出h。 U/KV 35 34 33 32 31 30 29