XRF用于水泥原材料定量分析的应注意的一些问题.docxVIP

XRF用于水泥原材料分析时应注意的某些问题 吉昂 Panalytical分析仪器部 我国水泥产量己跃居世界第一，毎年仍在建数十个生产线。从二十世纪八十年代初我国 已引进波长色散X射线荧光光谱仪用于水泥及原材料的质量控制分析，基于该分析手段具 有快速、准确、经济等特点，现在已成为大中型水泥企业的首选的组成分析仪器。 多年來分析水泥工业中原料、生料、熟料和成品中的主耍成份有NaO、MgO、AI2O3、 SiO2、SO3、CaO. Fe2O3,有时还要分析Cl及痕量元素等。国外早在二十年前就对水泥中 Tl、Pb、Cd、Cr、Zn等痕量元素的分析给予重够的重视卩?2】。基于生产水泥时冇时使用工业 废渣或旧轮胎等，痕量及有害元素的分析就显得十分重要。 现在一些生产厂家己经推出专用于水泥原材料分析的专业仪器，如Philips公司推出的 波长色散谱仪MagiX和CubiX,低分辨率能量色散谱仪MiniMate和台式能量色散谱仪 MiniPai,这两类仪器主要用于测定主、次量元索。若准备测定痕量元索应使用该公司的 MagiX和MiniPai谱仪。从分析结果准确度和精度以及测量时间来看，波长色散均优于能量 色散,用 MagiX 和 CubiX 测定常见组成 NaO、MgO、A12O3 SiO2、SO3、K2O、CaO、 FezCh通常60秒测定时间即可满足要求，而能量色散通常需要600秒甚至1200秒，数据精 度尚不如波长色散谱仪。但是在实际工作屮生料的取样谋差［习和矿物效应引起的谋差在很多 情况下是分析误差主要来源。 能量色散谱仪国内目前己有多家生产，特别是非色散型钙铁煤分析仪在30万吨以下的 水泥厂有很大市场，每年销售高达300-500台左右。 木文就分析对象、制样方法、标样的配制、基体校正、能量色散和波长色散谱仪在分析 分析中应用等方面作简单介绍。 一、基体效应 基体对X射线荧光强度产生影响表现在如下几个方面： 1 ?元素间吸收增强效应：当用足够高的电压如50kV激发样品时，可以使样品中存在的 元素均可产生相应的特征X射线，即X射线荧光。这些特:征X射线可以是K系线，也可能是 L系线。水泥屮经常要分析的元素的吸收限能量和特征X射线能量列于表1。 表1.水泥中经常要分析的元素的吸收限能量和特征X射线能量 待分析元素 F Na Mg Al Si S K Ca Fe K系吸收限(keV) 0.687 1.08 1.303 1.559 1.837 2.470 3.606 4.037 7.101 K?线能量(keV) 0.677 1.04 1.254 1.487 1.740 2.307 3.311 3.690 6.400 试样中的元索均可吸收所发射的特征X射线，这种吸收冇光电吸收和散射吸收两种，当 待测元素的特征X射线的能量大于基体中某一元素的K系吸收限，就可激发该元素，使Z产 生二次X射线荧光，如SiKa线可以激发Al、Mg、Na和F,但对Al的激发更冇效。其结果离 开试样表而的SiK°线强度减少，而AlKa线强度增加，这就是所说的元素间吸收增强效应。典 型的吸收增强效应如Fe?Ni和Fe?Cr二元合金所示，Ni对Fe有增强效应，而Fe在Fe?Cr二元 合金中的强度被Ci?吸收。 Ni (Wt%) i 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 100 90 80 70 60 50 40 30 20 10 0 Cr (M) 图1. Fc—Ni合金和Fc—Cr合金中Fc的强度与其浓度的关系图 2.矿物效应： 不同矿物由于待测元素的价态、配位及晶体结构差异而使特征X射线能量发生位移，如S-2和S-6 的28角度相差0.11度。再如金属铝、a-AbOa和高岭土中AL的线峰值也产明显的位移，峰形也 冇变化，特别是K卩的特征X射线的谱形产生的变化更大。这些致使不同矿物所产生的特征X射线 强度将发生变化。如图2和图3所示。图中……表示金属铝， 表示a-AlA,线代表高岭土。 4-° ????|?‘??|???‘ |????| ‘???|130 132 134图3.金属铝 4- ° ????|?‘??|???‘ |????| ‘???| 130 132 134 图3.金属铝(AL-1).高岑土(GAOLTNE-1)和a-Al 203的Kp谱及其伴线 136 2Thetaf) 这种矿物效应只能通过制样方法如熔融法予以消除，对于粉末压片法只能通过在校正曲线中 增加制备相应的相似标样予以解决。为了说明矿物效应对分析结杲的影响，这里举两个例了： 1、 使用同一种生料的校止曲线，分析不同矿物配制的生料，其制样方法与标样一致。矿物效应对分 析结果的彩响参见表2。 表2的分析结果表明：A1203、CaO和Si02受矿物效应影响很大，其相对误差分别为24.89%、 3. 78%