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第一章―― PAGE 27 X-射线荧光光谱基本原理 本篇主要介绍X-射线荧光光谱分析所涉及的X-射线物理学基础知识和X-射线荧光强度的理论计算公式。 第一章 X-射线物理学基础 §1.1 X射线的本质和定义 X射线是由高能量粒子轰击原子所产生的电磁辐射，具有波、粒二象性。电磁辐射的辐射能是由光子传输的，而光子所取的路径是由波动场引导[1]。X射线这种波、粒二象性，可随不同的实验条件表现出来。显示其波动性有：以光速直线传播、反射、折射、衍射、偏振和相干散射；显示其微粒性有：光电吸收、非相干散射、气体电离和产生闪光等。此外在能量大于1.02Mev时，可生成正负电子对。X射线波长范围在0.01~10nm之间，能量为124keV～0.124keV。其短波段与γ射线长波段相重叠，其长波段则与真空紫外的短波段相重叠。 量子理论将X射线看成由一种量子或光子组成的粒子流，每个光子具有的能量为： Ex=hυ=h (1-1) 式中Ex为X射线光子的能量(keV)，h为普郎克常数，其值为6.6262x10-34JS，υ为振动频率，C为光速，值为2.99792x1010cmS-1, λ为波长，以nm表示，1eV=1.6022x19-19J，将上述数值代入（1-1）式，可得 Ex(keV)=1.23984/λ (1-2) (1-2)式将X射线波、粒二象性的关系统一起来，依据X射线的波长即可计算出其能量。应当指出光的波动理论和光的量子理论是彼此互补的。用电磁波解释光的传播方式，而用光量子解释光与物质作用时的能量交换方式，这两种形式是完全独立的，只有用这两种不同的理论方能全面认识X-射线的本质。 §1.2 X射线光谱 用X射线管辐照样品，是产生荧光X射线光谱的常用方法。X射线管产生的X射线光谱，被称作原级X射线谱，它是由连续谱和特征谱组成。在X射线管中，当所加的管电压很低时，只有连续谱产生；当所加电压大于或等于X射线管的阳极材料激发电势时，特征X射线光谱即以叠加在连续谱之上的形式出现。这种特征光谱的波长决定于X射线管的阳极材料。连续光谱与白色光相似，具有连续的一系列波长的X射线；特征X射线光谱与单色光相似，是若干具有一定波长而不连续的线状光谱，可称之为单色X射线。原级X射线谱强度分布随X射线管类型、阳极材料、X射线管所用的窗口材料(铍片)的厚度、焦斑形状、施加电压和X射线管的出射角等条件而变。图1.1表示在100千伏（实用单位）的用钨作为阳极材料的X射线管所发射出来的连续光谱和特征光谱的强度分布情况[2]。 图1.1在100千伏工作电压下的钨靶X射线光谱强度分布[2] § 1.2.1 连续光谱 在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中连续光谱是用于激发样品的主要光源。这是由于其强度是以连续分布的形式存在，当X射线管所加电压足够高的情况下，它适用于周期表上所有元素各个谱系的激发。同时，连续光谱也是构成本底的主要成分。因此连续光谱的分布，一直是X射线荧光工作者十分关注的问题。谢忠信等[2]对连续X射线谱的起源、机制，从经典理论和量子理论角度对文献作了较好的概述。应该说，对连续光谱的解释，至今尚未完全解决。但是它的特点和规律性，以及连续光谱强度分布数据已为国内外许多学者论述和测定[3,7]。 荧光用X射线管和衍射用X射线管是不同的，荧光X射线管焦点很大、且不均匀。小孔(Φ10μm)成象测定表明，对侧窗X射线管而言，荧光X射线管靶面焦点达6×5mm2，发射X射线源形状为对应于灯丝形状的螺旋形。因此样品被激发时，来之于X射线管的光源以其焦斑的各个部分，并以不同出射角，发射出的X射线 [5]。 在X光管中用电子激发所产生的连续光谱具有的特点，如图1-2所示：（1）每一连续光谱强度分布曲线都存在着短波限λo，λo的大小仅取决于X光管内电子加速电压V，与所加电流i和靶材（原子序数Z）无关。 图1-2 X光管管电流、电压和阳极材料的改变对连续谱的影响[2] X光管的加速电压V和短波限λo，具有以下简单的关系 λo(nm)=1.23984/V（千伏） （1-3） 将(1-2)与(1-3)式比较后可以看出，加速电压与连续光谱短波限的X射线光子能量是一致的，