数据通路组成实验.docVIP

PAGE PAGE 4 华中科技大学武昌分校实验报告 实验名称 数据通路组成实验 成绩 实验日期 2014.11.14 第 3 次试验 指导老师 陈国平 专业 计科 班号 1202 组别 学生姓名 唐海军 047 同组学生 实验报告内容： 一、实验目的 进一步熟悉计算机的数据通路。 将双端口通用寄存器堆和双端口存储器模块连接，构成新的数据通路。 掌握数字逻辑电路中的一般规律，以及排除故障的一般原则和方法。 锻炼分析问题和解决问题的能力，在出现故障的情况下，独立分析故障现象，并排除故障。 二、实验设备 TEC-5计算机组成原理实验系统1台 逻辑测试笔一支（在TEC-5实验台上） 双踪示波器一台（公用） 万用表一只（公用） 三、实验电路 数据通路实验电路图如图3.3所示。它是将双端口存储器模块和双端口通用寄存器堆模块连接在一起形成的。存储器的指令端口(右端口)不参与本次实验。通用寄存器堆连接运算器模块，本次实验涉及其中的DR1。 由于双端口存储器是三态输出，因而可以直接连接到DBUS上。此外，DBUS还连接着通用寄存器堆。这样，写入存储器的数据由通用寄存器提供，从RAM中读出的数据也可以放到通用寄存器堆中保存。 本实验的各模块在以前的实验中都已介绍，请参阅前面相关章节。注意实验中的控制信号与模拟它们的二进制开关的连接。 四、故障的分析与排除 数字电路中难免要出现这样或那样的故障。有了故障迅速加以诊断并排除，使电路能正常运行，这是实际工作中经常遇到的事。因此，学会分析电路故障，提高排除故障的能力，是很有必要的。 就数字电路的故障性质而言，大体有两大类：一类是设计中的错误或不当造成的故障；另一类是元件损坏或性能不良造成的。 设计错误造成的故障 常见的设计错误有逻辑设计错误和布线错误。 对于布线错误，只要能仔细的进行检查就可以排除。要较快的判断出布线错误的位置，可以通过对某个预知特性点的观察检测出来。例如，该点的信号不是预期的特 华中科技大学武昌分校实验报告 实验名称 成绩 实验日期 第 次试验 指导老师 专业 班号 组别 学生姓名 同组学生 实验报告内容： 性，则可以往前一级查找。常见的布线错误是漏线和布错线。漏线的情况往往是输入端未连线或浮空。浮空输入可用三状态逻辑测试笔或电压表检测出来。 对于设计错误，需要在设计中加以留心和克服。首先要遵循的一个原则是：为使系统可靠的工作，从系统的初始状态开始，应该把线路置于信号的稳定电平上，而不是置于信号的前沿或后沿；其次没有出口的悬空状态是不允许存在的；另外设计中应当避免静态和动态的竞争冒险；最后，为便于维修，设计中应考虑把系统设计成具有单步工作的能力。 常见的设计错误包括对于中小规模集成电路中不用的输入端的接法。对一个不用的输入端常忘了接，因而输入端相当于接了有效的逻辑“1”电平。建议将所有不用的“与”门输入端统一接到一个逻辑“1”电平上，将所有不用的“或”门输入端统一接到一个逻辑“0”电平上。计数器不计数和寄存器不寄存信息的问题常常就是由不用的输入端进来的干扰信号引起的。 元件损坏造成的故障 一个数字系统，即使逻辑设计和布线都正确无误，但如果使用的元件损坏或性能不良，也会造成系统的故障。这种故障只要更换元件，就能恢复正常运行。除了元件损坏或性能不良之外，数字系统的故障还可能由于虚焊、噪声等原因造成。许多最初是间歇性故障，但最终还是会变成固定性故障。这种故障不是固定的逻辑高电平，就是固定的逻辑低电平，所以通常称之为“逻辑故障”。实验逻辑测试笔和逻辑脉冲笔（逻辑脉冲产生器）可以方便地查找数字电路中的逻辑故障。一种方法是先使用逻辑测试笔检测关键信号（如时钟、启动、移位、复位等） 丢失的地方，这样就把故障隔离到一个小范围内。有了故障的大概范围以后，去掉内部时钟脉冲，改用逻辑脉冲笔向特定的电路节点施加激励信号，观察输出端的状态。有了提供激励的逻辑