玻璃熔片法的制样精度.PPTVIP

X射线荧光分析中的样品制备技术 2008 年 9 月 23 日 XRFA制样需考虑的因素 荧光X射线的穿透深度 试样粒度 试样厚度 试样的均匀性和代表性 试样的表面效应 矿物效应 制样压力和样片密度 荧光X射线在物质中的半衰减厚度： 样品粒度 一般而言，样品粒度应达到穿透深度的5分之1。 随时间变化的样品 制样误差的主要来源 金属样品的制备 块状、板状的金属样品，经抛光后可直接分析 片状、屑状金属，可经离心铸造，再抛光后分析 贵金属、焊料等，加压成形。 粉末样品制备 直接粉末法 其他类型样品 Thank you ! 直接粉末法 样品一般要碎至20--100微米粒度。 优点：制样简单，没有污染，测量过的样品还可用于其它分析。 缺点： 受粒度和矿物效应的影响明显，通常分析的精密度和准确度较差，应用较少。 高分子膜对长波长X射线的吸收很明显，轻元素的灵敏度大幅度下降。 用于定量分析时，要对制样的再现性进行测试。 该法更适合于下照射型的仪器。 透过率 波长 ? 各种高分子膜的X射线透过率 A：1.5 um超聚酯；B：4 um聚丙烯纤维；C：2.5 um聚酯 D：6 um聚丙烯；E：5 um聚碳酸酯；F：6 um聚酯； G：6 um聚酯*；H：7.5 um聚酰亚胺 直接粉末法—样品量对结果的影响 Ti 直接粉末法—样品量对结果的影响 直接粉末法—样品量对结果的影响 * *