能量色散X荧光仪.docVIP

能量色散X射线荧光分析仪 最近开发一款能量色散X射线荧光分析仪，整机结构设计合理，光程短，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高等特点。分析样品可以是固体、粉末、液体等可以作到产品无损检测。能分析S(16)～U(92)之间所有元素，适用于环保、石化、炼钢、有色金属、玻璃、考古、食品、药品和化妆品等诸多行业，特别适用于电子、玩具等产品的RoHS检测。 硬件配置 探测器采用Si-PIN高分辨率半导体X射线探测器，由美国Amptek公司生产。 高压发生器采用50W高压电源，美国Spellman公司生产。 薄铍窗X射线管，最高功率达50W，国内专业厂商生产。 配置八种初级滤光片，根据设定自动转换，满足不同行业的分析要求。 配置六种准直器，根据设定自动转换，满足形状、大小不同的样品分析要求。 精心设计光路结构，使得光程很短，提高了探测效率。 超大样品室设计，使得大样品无需拆分即可直接测量。 可移动平台＋高清晰度摄像头设计，在测量样品的不同部位时，根据摄像准确找到测量点。 仪器接线简单，一个电源线，接220V电源；一个USB通讯线，接上位机（普通电脑）。 分析软件： 日常操作简单 在仪器稳定运行后，选择要使用的工作模型，此时仪器自动调整到仪器设定的状态（高压、管流、滤波片和准直器）；点高压关按钮，则高压指示灯灭，此时放入待测样品；点高压开按钮，则高压指示灯亮，此时点测量按钮即可进行测量，同步显示谱图，测量结束后显示分析结果，操作相当简单。 先进的谱处理方法 精细的背景扣除方法，多元素拟合寻峰方法，在软件设定条件下自动完成背景扣除、平滑，特征元素寻峰等过程，使得任何人操作都能有效获得了待测元素谱的净强度。 多种基体效应校正方法 由基本参数法和经验系数法共同组成的基体效应校正方法，确保了各类样品定量分析的准确性。基于基本参数法，可进行无标样定量分析。 软件控制的移动平台 由软件控制移动平台的上下左右移动，方便测量大样品的不同部位。配合高清摄像头，保存样品的图片信息。 该能谱仪已经研发成功，寻求合作伙伴，共同将仪器推向市场。 联系方式： email: edxrf@ 仪器外形 软件主操作界面 元素周期表内进行元素选择管理 移动平台控制界面及CCD影像