第10章 数据域测量.pptVIP

第10章 数据域测量（了解） 10.1 数据域测量的基本概念 10.2 数据域测量技术 10.3 逻辑分析仪 习 题 十 10.1 数据域测量的基本概念 一、数据域测量的特点 数据域测量面向的对象是数字逻辑电路，这类电路的特点是以二进制数字的方式来表示信息。由于晶体管“导通”和“截止”可以分别输出高电平或低电平，分别规定它们表示不同的“1和“0”数字，由多位0、1数字的不同组合表示具有一定意义的信息。在每 一特定时刻，多位0、1数字的组合称为一个数据字，数据字随时间的变化按一定的时序关系形成了数字系统的数据流。 10.2 数据域测量技术 一、简单逻辑电路的简易测试 二、穷举测试和随机测试 1．穷举测试法 由基本逻辑元件测试中，我们看到，数字电路测试的实质，就是对几个输入端加入2n个可能的组合信号，然后观察输出是否正确。如果对所有的输入信号，输出信号的逻辑关系都正确，则这个数字电路就是正确的；如果输出的逻辑关系不正确，这个数字电路就是错误的。这种测试方法就是穷举测试法。 2．伪穷举测试法 伪穷举测试的基本思想是，把一个大电路划分成数个子电路，对每个子电路进行穷举测试，总起来说，对数个子电路测试的输入组合数，远远低于对一个大电路进行穷举测试所需的输入组合数，因此，可大大节省测试时间。 3．随机测试法 将图10．2—7中的“穷举测试矢量产生”电路换成“随机测试矢量产生”电路，该图即为随机测试法的原理框图。图中“测试矢量产生”即“测试数据流产生”的意思，该电路随机地产生输入可能的2n种组合数据的数据流，由它产生的随机或伪随机测试矢量序列(数据流序列)同时加到被测电路和已知功能完好的参考电路中，对它们的输出响应进行比 较，根据比较结果，给出“合格／失效”的指示。 三、数据域测量技术 根据以上对数据域测量技术的讨论，我们看到，简单逻辑电路功能简单，可以用较简易的方法来测试。对于大规模集成电路，复杂的印制电路板，微型计算机系统等较为复杂的数字逻辑系统的测试，涉及到对故障类型的讨论，测试数据流的产生，故障测试方法及故障的定位等问题。 4．可测试性技术 一个大规模集成电路设计得再好，如果在设计时，没有考虑测试问题，那么这个电路由于无法检查验证其正确性，故不能投入实际使用。为此，在设计数字逻辑电路时，一定要同时考虑系统的测试问题，比如：多留一些与外电路连接的开关或引线脚，有意识地将数字电路划分成若干个子电路等，使得数字电路的测试变得可能和容易。 数字电路的可测性有多种定义，其中之一是：若对一数字电路产生和施加一组输入信号，并在预定的测试时间和测试费用范围内达到预定的故障检测和故障定位的要求，则说 明该电路是可测的。 数字电路的可测性包括两种特性：可控性和可观察性。可控性是指通过外部输入端信号设置电路内部的逻辑结点为逻辑“1”和逻辑“0”的控制能力。可观察性是指通过输出端信号观察电路内部逻辑结点的响应的能力。 10.3 逻辑分析仪 对复杂的大规模集成电路的测试以及对微处理器和微型计算机系统的测试主要使用逻辑分析仪。自1973年美国首先推出逻辑分析仪以来，这种仪器迅速发展，正如示波器是调 试模拟电路的重要工具一样，逻辑分析仪是研究测试数字电路的重要工具。由于它仍然以荧光屏显示的方式给出测试结果，所以也称为逻辑示波器。 二、逻辑分析仪的触发方式 逻辑分析仪可．以同时采集多路信号，便于对被测系统正常运行的数据流的逻辑状态和各信号间的相互关系进行观测和分析。 为了能在较小的存贮容量范围内，采集和存贮所需观测点前后变化的波形，逻辑分析仪设有多种触发方式。在进行数字信号观测时，必须正确选择触发方式。 1．组合触发 逻辑分析仪具有“字识别”触发功能，操作者可以通过仪器面板上的“触发字选择”开关，预置特定的触发字，被测系统的数据字与此预置的触发字相比较，当二者符合 时产生一次触发。 2．延迟触发 在故障诊断中，常常希望既能看到触发点前的情况，又能看到触发点后的情况，这时则可设置一个延迟门