光电检测技术及应用第11章 光纤传感测量201607.pptVIP

光纤传感器就是将光纤作为敏感元件或传光元件，感知外界被测量的变化，并将光传送到光电检测系统。 用被测量调制入射光波的某一参数，使其随之变化，然后对已调制的光信号进行检测。 功能型光纤传感器的原理 二、光纤传感器 第11章、光纤传感测量 二、光纤传感器 第11章、光纤传感测量 光纤传感器的可能发展趋势： 当前应以传统传感器无法解决的问题作为光纤传感器的主要研究对象 集成化光纤传感器 多功能全光纤控制系统 充分发挥光纤的低传输损耗特性，发展远距离监测系统 开辟新领域 光纤传感器具有很多的优点，是对以电为基础的传统传感器的革命性变革，具有良好发展前景。 目前光纤传感器的成本较高, 面临着传统传感器的挑战，存在着与传统传感器和其它新型传感器的竞争问题 二、光纤传感器 第11章、光纤传感测量 光的调制和解调可分为：强度、偏振、相位、频率和波长调制等方式。 光的调制过程就是将一携带信息的信号叠加到载波光波上；完成这一过程的器件叫做调制器。 在光纤传感器中，光的解调过程通常是将载波光携带的信号转换成光的强度变化，然后由光电探测器进行检测。 光纤传感器中光强度调制是被测对象引起载波光强度变化，从而实现对被测对象进行检测的方式。光强度变化可以直接用光电探测器进行检测。 解调过程主要考虑信噪比是否能满足测量精度的要求。 光纤传感器原理 二、光纤传感器 第11章、光纤传感测量 二、光纤传感器 第11章、光纤传感测量 微弯损耗强度调制器的原理如图。当垂直于光纤轴线的应力使光纤发生弯曲时，传输光有一部分会泄漏到包层中去。 微弯效应调制 光纤微弯效应调制 二、光纤传感器 第11章、光纤传感测量 光强度外调制 利用对外界因素引起光纤中光强的变化来探测外界物理量及其变化量的光纤传感器。 外调制技术的调制环节通常在光纤外部，因而光纤本身只起传光作用。这里光纤分为两部分：发送光纤和接收光纤。 二、光纤传感器 第11章、光纤传感测量 透射式光纤位移传感器示意图 光强度外调制 反射式光纤位移传感器示意图 二、光纤传感器 第11章、光纤传感测量 光强度外调制 演示 二、光纤传感器 第11章、光纤传感测量 利用折射不同进行光强度调制的原理包括： 利用被测物理量引起传感材料折射率的变化关系； 利用渐逝场耦合关系； 利用折射率不同的介质之间的折射与反射关系。 折射率光强度调制 全反射面 强度调制型光纤传感器 光波以大于临界角的角度入射到n1、n3介质的界面。若n3介质由于压力或温度的变化引起n3微小变化，会导致反射系数的变化，从而导致反射光强的改变。 二、光纤传感器 第11章、光纤传感测量 传输波损耗变化型 在温度恒定时，包层折射率n2与纤芯折射率n1之间的差值是恒定的。当温度变化时，n2 、n1之间的差发生变化，从而改变传输损耗。 渐逝波耦合度变化型 当光在纤芯和包层分界面处发生全反射时，在光疏介质中仍存在电磁场，其强度按指数规律迅速衰减，透射深度一般约为几个波长，这种现象称为渐逝场。若使渐逝场能以较大的振幅穿过光疏媒质，并伸展到附近的折射率高的光密媒质材料中，能量就能穿过间隙，使反射光减弱，称受抑全反射。 利用光纤（或其他光学元件如棱镜）的反射端面的反射系数随被测参数变化而达到调制光强的目的。 光纤光强反射系数改变型 折射率光强度调制 二、光纤传感器 第11章、光纤传感测量 强度调制的解调 利用上式计算的信噪比，对大部分信号处理和传感器应用已绰绰有余。 二、光纤传感器 第11章、光纤传感测量 调制器本身随温度和时间老化出现的漂移； 光源老化引起的强度变化以及探测器的响应随温度的变化等。 强度调制的解调 强度调制应用中注意的问题： 注：上述影响比信号噪声和热噪声对测量精度的影响要大得多。应在传感器结构设计中和制造工艺中设法减小这些影响。 光源与光纤、光纤和转换器之间的机械部分引起的光耦合随外界影响的变化，如： 二、光纤传感器 第11章、光纤传感测量 二、光纤传感器 第11章、光纤传感测量 光波是横波，光振动的电场矢量E和磁场矢量H和光线传播方向s正交。按照光的振动矢量E、H在垂直于光线平面内矢端轨迹的不同，又可分为线偏振光（又称平面偏振光）、圆偏振光、椭圆偏振光和部分偏振光。 利用光波的这种偏振性质可以制成光纤的偏振调制传感器。光纤传感器中的偏振调制器常利用电光、磁光、光弹等物理效应。 光纤传感器的偏振调制 二、光纤传感器 第11章、光纤传感测量 当压电晶体受光照射并在其正交方向上加以高电压，晶体将呈现双折射现象—普克耳效应。在晶体中，两正交的偏振光的相位变化： 普克耳效应 入射光 正常光 异常光 压电晶体 普克耳效应示意图 二、光纤传感器 第11章、光纤传感测量 平面偏振光通过带磁性的物体时，其偏振光面发生偏转，这种