测控技术与仪器实践能力训练集成电路.ppt

集成电路 差动输入级 使运算放大器具有尽可能提高的输入电阻及尽可能高的共模抑制比。因此输入级电路一般为差动放大器。 中间放大级 该级电路由多级直接耦合放大器组成，以获得足够高的电压增益。 输出级 使运算放大器具有一定幅度的输出电压、输出电流和尽可能小的输出电阻。输出过载时有自动保护作用以免损坏集成电路。输出级电路一般为互补对称推挽电路。 偏置电路 为各级电路提供合适的工作点。为使工作点稳定，一般采用恒流源偏置电路。 * 精仪学院实验中心 * 集成电路 * 精仪学院实验中心 * 集成电路 * 精仪学院实验中心 * 集成电路 图3为μA741（美国仙童公司产）的内部电路图，这是一种价廉的、应用广泛的通用型集成运算放大器。VT1、VT3与VT2、VT4组成运算放大器的差动输入级电路，VT5、VT6、VT7组成差动放大器的恒流源电路，VT8、VT9是差动放大器的有源负载电路。VT14与VT15组成中间电压放大级，其中VT14接成射极跟随器，在输入级与中间级之间起缓冲隔离作用，VT15是电压放大器，其集电极负载是VT12与VT13构成的恒流源电路，故电压放大倍数很高，VT14与VT17组成互补对称推挽输出电路，VT18构成推挽电路的静态偏置电路并消除交越失真。VT19、VT20起过流保护作用。 * 精仪学院实验中心 * 集成电路 2． 主要性能参数的测试方法 表征运算放大器性能的主要参数有： ① 输入失调电压 运算放大器的两个输入端加相同的电压或直接接地时，输出电压不为零，为使输出电压为零而在输入端引入的补偿电压UIO称为失调电压。 失调电压的测试电路如图4所示。用万用表（最好是数字电压表）测量其输出电压UO则输入失调电压UIO可由下式计算 * 精仪学院实验中心 * 集成电路 图4 输入失调电压测试电路 * 精仪学院实验中心 * 集成电路 输入失调电压主要是由于构成差动输入级的差动放大器的两个三极管的特性不一致等原因造成的。UIO一般为：0.5~5mV其值越小越好。 ② 输入失调电流 输入失调电流IIO是指当输入信号为零时，运算放大器两个输入端的基极偏置电流的差，即 IIO = IB+ - IB- 其中IB+为同相输入端基极电流，IB-为反相输入端基极电流。 * 精仪学院实验中心 * 集成电路 失调电流的测试电路与图4相同。用万用表分别测量同相端3对地的电压U3及反相端2对地的电压U2，则输入失调电流IIO可由下式计算 输入失调电流主要是由于构成差动输入级的差动放大器的两个三极管的β值不一致引起的。IIO 一般为1nA ~10μA ，其值越小越好。 输入失调电压UIO与输入失调电流IIO称为运算放大器的静态性能参数。 * 精仪学院实验中心 * 集成电路 ③ 开环电压增益 开环电压增益AVO是指运放没有反馈时的差模电压增益，即运算放大器的输出电压Uo与差模输入电压Uid之比值。开环电压增益通常很高，要求输入电压很小（几百微伏）才能保证输出波形不失真。但在小信号输入条件下测试时，易引入各种干扰，所以采用闭环测量方法较好，其测试电路如图5 所示。选择电阻R1+R2R3，则开环电压增益AVO为: * 精仪学院实验中心 * 集成电路 图5 测开环电压增益 用交流电压表分别测量UO及Ui，由上式可以计算开环增益AVO。测量时，交流信号源的输出频率尽量选低（小于100Hz），并用示波器监视输出波形，若有自激振荡，应进行相位补偿、消除振荡后才能进行测量。Ui的幅度不能太大，一般取几十毫伏。 * 精仪学院实验中心 * 集成电路 ④ 增益带宽积 运算放大器可以工作在零频率(即直流)，因此它的截止频率fc处的电压增益比直流时的电压增益低3db，故运算放大器的带宽BW就等于截止频率fc。增益越高，带宽越窄，增益带宽积为常数，即 AV·BW = 常数 * 精仪学院实验中心 * 集成电路 放大倍数等于1时的带宽称为单位增益带宽。增益带宽积的测试电路如图6所示。其中信号源的输出为电压Ui=100mV的正弦波，示波器用来同时观测放大器的输入输出波形。首先取表7中的第1组阻值RF=R1=10KΩ，测量放大器的单位增益带宽。当信号源的输出频率由低逐渐增高时，电压增益AV =UO/Ui=1应保持不变。继续增高频率直到 AV=0.707时所对应的频率就是运算放大器放大倍数等于1时的带宽，即单位增益带宽。再取表中第2、第3组数据，分别测出不同电压增益AV时的带宽BW，通过计算求出增益带宽积AV·BW。实验结果表明：增益增加时，带宽减小，但增益带宽积不变（可能存在测量误差）。因此运算放大器在给定电压增益下，其最高工作频率受到增益带宽积的限制限制，应用时要特别注意这一点