148-宇航元器件用微尺度材料的测试技术.docVIP

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  • 2020-04-23 发布于北京
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148-宇航元器件用微尺度材料的测试技术.doc

PAGE PAGE 2 宇航元器件用微尺度材料的测试评价技术 何端鹏,高鸿,李岩,邢 焰 (中国航天宇航元器件工程中心,北京 100094) 摘 要:微型化是宇航元器件技术发展的一个趋势,随着材料科学技术的进步,微尺度材料在元器件领域应用日益广泛。然而,在微米或纳米量级下材料行为和性能与宏观尺度下的表现存在显著性差异,理论预测也不尽相同,迫切需要开展微尺度材料的性能研究,建立微尺度下的性能演变规律。在宇航元器件过程控制能力体系(PCS)构建中,材料质量问题及特征是材料技术的重点关注项。本文概述了元器件用微尺度材料的几类典型的质量问题及使用风险。材料的检测分析作为质量控制的重要手段,为此,文章系统阐述了针对微尺度材料的测试评价方法。 关键词:宇航元器件;PCS;微尺度材料;质量控制;测试技术 引言 构成宇航元器件实体的材料的质量优劣会直接影响元器件的总体质量,因此保证元器件材料的质量即是保证工程质量的基础,必须把好材料质量关。元器件的微型化是近年来发展的一个趋势,随着材料科学技术的进步,微尺度材料在宇航元器件领域应用日益广泛。然而,在微米或纳米量级下材料行为与宏观尺度下的性能表现存在显著性差异,理论预测也不尽相同,迫切需要开展微尺度材料的性能研究,建立微尺度下的性能演变规律。在宇航元器件PCS构建中,材料质量问题及特征是材料技术的重点关注项。本文概述了元器件用微尺度材料的

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