139-一种基于FPGA的混合信号微系统DAC单元动态参数测试方法研究.docVIP

PAGE 2 一种基于FPGA的混合信号微系统DAC单元 动态参数测试方法研究 秦贺，冯长磊，韩逸飞，李光北，武昊男 （北京微电子技术研究所，北京市丰台区东高地四营门北路2号，100076） 摘 要：为准确评估混合信号微系统中DAC单元动态参数指标，本文针对微系统中的DAC动态参数测试进行深入研究，提出了基于混合信号微系统FPGA单元的数据处理测试技术，开发研制了混合信号微系统DAC单元动态参数测试系统，并借助北京微电子技术研究所自研电路完成了内部DAC单元的动态参数测试，测试结果表明，该方法可以实现对混合信号微系统DAC单元动态参数指标的有效测试评估，能够解决混合信号微系统随封装集成密度的不断提高导致的可测性降低问题，进而提升混合信号微系统测试效率和测试覆盖率。 关键字:混合信号，微系统，DAC动态参数 引言 随着微小卫星、无人机、制导导弹、单兵作战装备等武器装备电子系统对微小型化、轻质化和高功能密度集成的需求日益强烈，微系统的应用愈加广泛，目前已在国内外的各类宇航用电子系统与军用武器装备中批量列装。其中，集成数模转换单元（DAC）、模数转换单元（ADC）与可编程逻辑单元（FPGA）等单元电路的混合信号微系统已成为该领域的主要发展趋势之一。 目前混合信号微系统测试内容不全面、测试覆盖率低、效率差的现状与武器装备需求之间出现较大的差距。微系统的测试及考核评价技术已经成为武器装