电子行业标准 SJT 10805-2017 半导体集成电路 电压比较器测试方法.pdfVIP

ICS 31.200 L55 备案号： SJ 中华人民共和国电子行业标准 SJ/T 10805—×××× 代替SJ/T10805-2000 半导体集成电路 电压比较器测试方法 Semiconductorintegratedcircuits Measuringmethodsforvoltagecomparators （报批稿） 201－ － 发布 201－ － 实施 中华人民共和国工业和信息化部 发 布 SJ/T10805—×××× 目 次 前言II 1 范围1 2 规范性引用文件1 3 符号1 4 一般要求1 5 详细要求2 5.1 输入失调电压VIO2 5.2 输入失调电压温度系数αVIO3 5.3 输入失调电流 IIO4 5.4 输入失调电流温度系数αIIO5 5.5 输入偏置电流 IIB6 5.6 输入偏置电流温度系数αIIB7 5.7 静态功耗PD8 5.8 开环电压增益AVD10 5.9 共模抑制比KCMR10 5.10 最大共模输入电压VICM 13 5.11 电源电压抑制比KSVR14 5.12 最大差模输入电压VIDM 15 5.13 输出高电平电压VOH15 5.14 输出低电平电压VOL16 5.15 高电平输出电流 IOH17 5.16 低电平输出电流 IOL17 5.17 开环差模输入电阻RID18 5.18 开环单端输出电阻ROS18 5.19 控制端阈值电压VT19 5.20 控制端电流 IC20 5.21 输出漏电流 Ileak21 5.22 输出吸入电流 ISink22 5.23 响应时间t t t t t22 r、 f、 d+、 d-、Δ 5.24 锁存延迟时间td（L）23 附 录 A(规范性附录) 电参数符号25 I SJ/T10805—×××× 前 言 本标准按照GB/T1.1-2009给出的规则起草。 本标准代替SJ/T10805-2000 《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》。 本标准与SJ/T10805-2000相比主要变化如下： a）“一般要求”中增加了“测试期间，被测器件输入和输出应处于确定状态”的要求（见第4章）； b）“详细要求”中按照GB/T4728的要求重新对测试原理图的图形符号进行了编制（见第5章）； c）增加“控制端阈值电压”、“控制端电流”、“输出漏电流”、“输出吸入电流”、“锁存延 迟