第八章光刻与刻蚀工艺.pptxVIP

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  • 2020-06-10 发布于浙江
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集成电路制造技术 第八章 光刻与刻蚀工艺;主要内容;第八章 光刻与刻蚀工艺;第八章 光刻与刻蚀工艺;第八章 光刻与刻蚀工艺;掩模版;Clean Room净化间;光刻工艺的基本步骤 ? 涂胶 Photoresist coating ? 曝光 Exposure ? 显影 Development;1)清洗硅片 Wafer Clean;5、对准 Alignment;9、坚膜 Hard Bake;光刻1-清洗;光刻3-涂胶 Spin Coating;光刻胶厚度与旋转速率和粘性的关系;光刻4-前烘Soft Bake;5-6、对准与曝光 Alignment and Exposure;;光学曝光、X射线曝光、电子束曝光 ①光学曝光-紫外,深紫外 高压汞灯:紫外(UV),300-450nm; i线365nm,h线405nm,g线436nm。 准分子激光:KrF:λ= 248nm; ArF:λ= 193nm; F2激光器: λ= 157nm。;电子束曝光:λ=几十---100?; 优点:分辨率高;不需光刻版(直写式); 缺点:产量低(适于制备光刻版); X射线曝光:λ=2---40? ,软X射线; X射线曝光的特点:分辨率高,产量大。 极短紫外光(EUV):λ=10—14nm;光刻7-曝光后烘焙(后烘,PEB);光刻8-显影(De

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