粒度分析原理与应用 课件.pptVIP

粒度分析原理与应用 一个相以细颗粒状态分布在另一相中就构成了 分散体系，前者称为分散相，后者称为分散介 质。 固体颗粒的松散堆集体通常称为粉末或粉体。 分散体系和粉末中颗粒的粒度和比表面（单位 体积或单位质量分散相所具有的表面积）决定 着分散体系和粉末的性质，因此粒度的测量在 材料科学的研究中是一种最基本的测量。 粒度与颗粒形状 粒度是颗粒在空间范围所占据大小的线性尺度。 粒度越小，颗粒的微细程度越大。 表面光滑的球形颗粒只有一个线性尺度，即其 直径， 粒度就是直径。 非球形颗粒或虽然大体上球形，但表面不光滑 的颗粒，则可按某种规定的线性尺度表示粒度。 其中有一些规定是以某种意义的相当球或相当 圆的直径作为其粒度的。有些规定的粒度并不 是相当球或圆的直径，也可统称为颗粒的直径。 根据颗粒几何尺寸规定的一些粒度 名称、符号与定义 意义 颗粒投影像 的某种线度 短轴径（宽度） b 长轴径（长度） l 定方向径 D y 沿一定方向夹颗粒投影像的两条平行线之 间的距离 . 对一个颗粒 , 随方向而异 , 可取其 按所有方向的平均值 . 但对于取向随机的 颗粒群 , 可沿一定方向 . 定方向等分径 D M 沿一定方向将颗粒投影像等分的线段 的长度 . 其它说明同上 . 周长径 D L =L/ ? 颗粒某些线 度的平均 二轴平均径 （ b+l ） /2 三轴平均径 （ b+l+h ） /3 名称、符号与定义 意义 按颗粒投影像 面积 正方形相当径 a 1/2 与颗粒投影像面积的正方形的边长 圆形相当径 D a =(4a/ ? ) 1/2 与颗粒投影像面积的圆的直径 按表面积 外接长方体表面积相当径 [(bl+lh+hb)/3] 1/2 与颗粒的外接长方体等表面积的立 方体的边长 表面积相当直径 D S =(S/ ? ) 与颗粒等表面积的球的直径 ,S= ? D S 2 按体积 外接长方体体积相当径 (blh) 1/3 与颗粒的外接长方体等体积的立方 体的边长 柱状体体积相当径 (ah) 1/3 与以颗粒的透影像为底 , 和颗粒同高 的柱状体等体积的立方体的边长 立方体相当径 (v) 1/3 与颗粒等体积的立方体的边长 体积相当直径 D V =(6v/ ? ) 1/3 与颗粒等体积的球的直径 V= ? D V 3 /6 按颗粒的比表 面 表面积体积相当直径 D sv =6v/s=6/S v 与颗粒具有相同的表面积对体积之比即 具有相同的体积比表面 S v 球的直径 颗粒群粒度分布的图形和函数表示 颗粒群是指含有许多颗粒的粉末或分散体系中的分散相。 实际颗粒群所含颗粒的粒度大都有一个分布范围。粒度 分布范围越窄，就说分布的分散程度越小，其集中度越 高。 大多数颗粒群的粒度分布可以认为是连续的。在实际测 量中，往往将连续的粒度分布范围视为许多个离散的粒 级，测出各粒级中的颗粒个数百分比或重量百分比 ?? ； 或测出小于各粒度的累积个数百分比或累积重量百分比 ? 。 A. 列表法：将粉体粒度分析数据列成表格，分别计算出各粒 级的百分数和累计百分数，如下页所示。列表法的特点是量化 特征突出，但变化趋势规律不直观。 矩形图（直方图） 频率分布曲线 按 ?? / ? D ? D 矩形图作一折线或光滑曲线 , 当测量的粒度间隔 ? D 足够小时 获得的曲线成为频率分布曲线 . 其意义是 : 任一粒度间隔内颗粒的百分比 等于曲线下方该间隔内的面积占曲线下方总面积的百分数 . 三个特征粒度 : 1. 对应于最高点的最多数径或最多量径 D m. 2. 对应于累计百分数为 50% 的中位径 D 1/2. 3. 平均径 累计分布 测出的累计百分数 ? 与粒度 D 的关系可用表格表示 , 也可用累计分布曲线表 示 . 累计分布曲线与频率分布曲线互为积分与微商的关系 . 对等粒度间隔而 言 , 对应于累计分布曲线越陡处即 d ? /dD 越大处 , 间隔内的百分比就越大 . 二 粒度的测量方式 对于粒度的测试方法应根据粉末粒度范围、颗粒的形 态材质以及测试的目的等不同要求而确定。目前，粉 末粒度的测试方法主要有以下几种测试方法： 1. 筛分法； 2. 显微镜法（ SEM 或 TEM ）； 3. 离心沉降法； 4. 激光散射法； 1. 筛分法 原理：将被测样品经过不同大小 孔径的筛网过筛，然后再称重，结