现代科技综述知识文库：粒子激发X荧光分析.pdf

现代科技综述系列—— 粒粒子子激激发发XX荧荧光光分分析析 科技是人类区别于动物的重要文明之一， 是人类对自然规律研究 利用的学科。 本文提供对科技基本概念 “粒子激发X荧光分析” 的解读，以供大家了解。 粒粒子子激激发发XX荧荧光光分分析析 利用带电粒子(通常指质子，也包括α粒子 氘核甚至 重离了)激发元素所发射的特征X射线来进行元素分析 的一种手段，记为PIXE 。 它具有高灵敏度、非破坏性、多元素定量分析等特 点，在生物医学、地矿学、环境保护 考古学等许多 研究领域有重要应用。 特征X射线的发现 研究是利用X荧光光谱来作元素成 分分析的基础。 用X光管激发的X荧光分析早已成为实验室 工矿企业 的常规分析手段。 随着激发源 X射线探测技术的研究进展，激发源已从 原有的X光管、放射性核素源发展到用粒子加速器加速 得到的带电粒子束；近年来又发展了从同步辐射装置 或正负电子对撞机得到的同步辐射源。 X射线探测器也已从晶体 正比计数管等发展到半导体 Si(Li)探测器。 1970年，瑞典物理学家约翰逊等人(Johansson et al．)实 验发现，由质子激发的X射线 Si(Li)探测器相配合， 能成为一种高灵敏度、多元素定量分析的有力手段。 随即发现，α粒子、氘核甚至一些重离子也可用于同一 目的。 同电子激发相比，粒子激发的最大好处是粒子的韧致 辐射强度比电子的降低了6～7个数量级，分析灵敏度 可提高到102到103倍。 常用的带电粒子能量范围为几百千电子伏到几兆电子 伏。 它们能同时激发样品中的多种元素的特征X射线，最适 于做多元素分析。 带电粒子束还能聚焦成细束，组成微探针装置，对样 品作微区分析。 用重离子作为激发源时，激发效率高，有确定的激发 阈，可用作选择性激发。 但重离子在样品表面产生的溅射 在样品内部引起的 辐照损伤都比较大，由它激发产生的X射线谱也比较复 杂。 目前用得最多的激发源还是质子。 探测X射线的基本方法有两种：一是记录X射线波长的 波长色散法，二是记录X射线能量的能量色散法。 波长色散探测系统的分辨率高，但探测效率低。 除了在早期用于元素分析外，目前主要用于X射线谱精 细结构研究，例如原子化学环境引起的X射线能量位移 (化学位移)，重离子激发的X射线多重线测量等。 能量色散探测系统由X射线探测器 电子学仪器两部分 组成。 它的探测效率高，能量测量范围广，已广泛应用于多 元素的定性 定量分析中。 常用的X射线探测器有密封式正比计数管、流气式正比 计数管、薄NaI( l) CsI( l) 闪烁计数器、Si(Li)半导体 探测器。 密封式正比计数管用铍或云母作为X射线的入射窗，用 Xe Kr作为工作气体，适用于测量短波区X射线。 流气式正比计数管用薄塑料(例如3～6μm厚的Mylar膜) 作为入射窗，用Ar 甲烷混合气体作为工作气体，适 用于测量长波区X射线。 对于超长波区X射线的X射线，应使用更薄(1μm) 的聚 丙烯窗。 闪烁计数器的晶体厚度为2～5mm ，用薄的铍箔(1μm) 兼作晶体包装 X射线入射窗。 Si(Li)探测器要在液氮温度(77K)下工作，探头封闭真空 中，要用很薄的铍窗使其与大气隔开。 目前市场出售的Si(Li)探测器，它对5 ．9KeV 的X射线 的能量分辨率为160eV左右。 由Si(Li)探测器配上电子学仪器组成的Si(Li)谱仪在实验 室中使用普遍。 它的计数率特性很重要，因为在高计数率下它的能量 分辨率会变差，能谱的峰位会发生移动。 因此电子学测量系统中必须采用“抗堆积电路” “极 另”补偿网络。 近年来出现一种“