材料微观分析复习题 文档资料.pptVIP

一、选择题 ? 1. . 当 X 射线将某物质原子的 K 层电子打出去后， L 层电子回 迁 K 层，多余能量将另一个 L 层电子打出核外，这整个过程将 产生（ D ）。 A. 光电子； B. 二次荧光； C. 俄歇电子； D. （ A+C ） ? 3. 最常用的 X 射线衍射方法是（ B ）。 A. 劳厄法； B. 粉末多晶法； C. 周转晶体法； D. 德拜法。 4. 测定钢中的奥氏体含量，若采用定量 X 射线物相分析，常 用方法是（ C ）。 A. 外标法； B. 内标法； C. 直接比较法； D. K 值法。 5. 可以提高 TEM 的衬度的光栏是（ B ）。 A. 第二聚光镜光栏； B. 物镜光栏； C. 选区光栏； D. 其它光栏。 6. 如果单晶体衍射花样是正六边形，那么晶体结构是（ D ） A. 六方结构； B. 立方结构； C. 四方结构； D. A 或 B 。 8. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（ B ）。 A. 背散射电子； B. 二次电子； C. 吸收电子； D. 透射电子。 9 ．透射电镜的两种主要功能：（ b ） （ a ）表面形貌和晶体结构 （ b ）内部组织和晶体结构 （ c ）表面形貌和成分价键 （ d ）内部组织和成分价键 11. X 射线衍射方法中最常用的方法是（ b ）。 a. 劳厄法； b ．粉末多晶法； c ．周转晶体法。 13. X 射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名 时可以采用（ c ）。 a ．哈氏无机数值索引 ； b. 芬克无机数值索引； c. 戴维无机字 母索引。 14. 能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是（ b ）。 a ．第二聚光镜光阑 ； b. 物镜光阑 ； c. 选区光阑。 15. 透射电子显微镜中可以消除的像差是（ b ）。 a ．球差 ； b. 像散 ； c. 色差。 16. 可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是（ a ）。 a ．高阶劳厄斑点 ； b. 超结构斑点； c. 二次衍射斑点。 17. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析 1nm 厚表层成分的信号是（ b ）。 a ．背散射电子； b. 俄歇电子 ； c. 特征 X 射线。 18. 中心暗场像的成像操作方法是（ c ）。 a ．以物镜光栏套住透射斑； b ．以物镜光栏套住衍射斑； c ．将衍射斑移至中心并以物。 19. 对于面心立方晶体来说，下面（ c ）个晶面可能会产生 衍射斑点 a ．（ 100 ）； b ．（ 110 ）； c ．（ 111 ）； d. (211) 二、填空题： 1. 电子衍射产生的复杂衍射花样是 高阶劳厄斑、超结构斑 点、二次衍射、孪晶斑点和菊池花样。 2. 当 X 射线管电压超过临界电压就可以产生 连续谱 X 射 线和 特征谱 X 射线。 3. 产生衍射的必要条件是 满足布拉格方程 ，充分条件 是 衍射强度不等于 0 。 4. 电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。 6. 电子探针包括波谱仪和能谱仪两种仪器。 7. 今天复型技术主要应用于 萃取复型 方法来揭取第二 相微小颗粒进行分析。 8. X 射线管主要由 阳极、阴极、和 窗口 构成。 ? 德拜照相法中的底片安装方法有： 正装 、 反装 和 偏装 三种。 ? 测钢中残余奥氏体的直接比较法就属于 X 射线物 相分析方法中的 定量 分析方法。 ? 透射电子显微镜的分辨率主要受 衍射效应 和 像差 两因素影响。 ? 扫描电子显微镜常用的信号是 二次电子 和 背散射电子。 三、判断题 1 ．透射电镜图像的衬度与样品成分无关。 （× ） 2 ．扫描电镜的二次电子像的分辨率比背散射电子像更高。 （ √ ） 3 ．透镜的数值孔径与折射率有关。 （ √ ） 4 ．放大倍数是判断显微镜性能的根本指标。 （×） 5 ．在样品台转动的工作模式下， X 射线衍射仪探头转动的角 速度是样品转动角速度的二倍。（ √ ） 6. 电子